[發明專利]顯示面板對組設備以及顯示面板對位檢測方法有效
| 申請號: | 201911108596.6 | 申請日: | 2019-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN110780476B | 公開(公告)日: | 2022-03-08 |
| 發明(設計)人: | 車新苑 | 申請(專利權)人: | TCL華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G02F1/1335 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 楊艇要 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 面板 設備 以及 對位 檢測 方法 | ||
本發明提供一種顯示面板對組設備以及顯示面板對位檢測方法。顯示面板對組設備用于對組陣列基板和彩膜基板,其包括密封腔體、至少一激光傳感器以及數據處理器。所述激光傳感器可移動地設置于所述彩膜基板遠離所述陣列基板的一側;所述激光傳感器包括發射端和檢測端;所述數據處理器與所述激光傳感器連接;當所述陣列基板的金屬走線與所述彩膜基板的黑色矩陣對位后,通過移動所述激光傳感器進行對位檢測,所述發射端發出光線,當所述檢測端感應到所述金屬走線反射的光線時所述數據處理器判斷所述陣列基板和所述彩膜基板對位偏移,當所述檢測端未感應到光線時判斷對位準確。本發明避免了十字標記在對組前就已經偏移的情況下導致的對位偏移問題。
技術領域
本發明涉及微電子加工設備技術領域,尤其涉及一種顯示面板對組設備以及顯示面板對位檢測方法。
背景技術
在液晶面板制作過程中,陣列基板和彩膜基板的對組可能會存在陣列基板的金屬走線與彩膜基板的黑色矩陣對位偏移的情況,這種偏移會造成開口率下降、漏光等問題。
傳統檢測對位狀況的技術是在對組過程中監測陣列基板和彩膜基板邊緣十字標記的對準情況來判斷對組是否正確,但這種方式并不適用十字標記在對組前就已經偏移的情況。
因此,有必要提供一種新的陣列基板、顯示面板及陣列基板的制作方法,以克服現有技術中存在的問題。
發明內容
鑒于上述技術問題,本發明提供了一種顯示面板對組設備以及顯示面板對位檢測方法,當所述陣列基板的金屬走線與所述彩膜基板的黑色矩陣對位后,通過增加激光傳感器進行對位檢測,避免了十字標記在對組前就已經偏移的情況下導致的對位偏移問題。
為了解決上述問題,本發明提供一種顯示面板對組設備,包括密封腔體、至少一激光傳感器以及數據處理器。在所述密封腔體內陣列基板的金屬走線與彩膜基板的黑色矩陣進行對位,所述金屬走線的分布區域小于等于所述黑色矩陣的分布區域;所述激光傳感器可移動地設置于所述密封腔體內且位于所述彩膜基板遠離所述陣列基板的一側;所述激光傳感器朝向所述彩膜基板的一側同時包括發射端和檢測端;所述激光傳感器的中心軸與所述陣列基板或所述彩膜基板所在平面垂直設置;所述數據處理器與所述激光傳感器連接;當所述陣列基板的金屬走線與所述彩膜基板的黑色矩陣對位后,通過移動所述激光傳感器進行對位檢測,所述發射端發出光線,當所述檢測端感應到所述金屬走線反射的光線時,所述數據處理器判斷所述陣列基板和所述彩膜基板對位偏移,當所述檢測端未感應到所述金屬走線反射的光線時,所述數據處理器判斷所述陣列基板和所述彩膜基板對位準確。
進一步地,所述陣列基板呈矩形設置且其上設有顯示區,所述顯示區內設有陣列排布的像素單元,所述激光傳感器在所述顯示區內沿平行于所述陣列基板的長邊或寬邊或對角線的方向移動,且所述激光傳感器的移動距離大于一個像素單元的長邊或寬邊或對角線的長度。
進一步地,所述數據處理器包括對位控制單元、對位檢測單元、對位判斷單元;所述對位控制單元用于在所述密封腔體內控制所述陣列基板的金屬走線和所述彩膜基板的黑色矩陣進行對位;所述對位檢測單元與所述激光傳感器連接,用于在所述陣列基板的金屬走線與所述彩膜基板的黑色矩陣對位后,控制所述激光傳感器移動,并控制所述發射端發出光線同時識別所述檢測端是否感應到所述金屬走線反射的光線;所述對位判斷單元與所述對位檢測單元連接,用于在所述檢測端感應到所述金屬走線反射的光線時判斷所述陣列基板和所述彩膜基板對位偏移,在所述檢測端未感應到所述金屬走線反射的光線時判斷所述陣列基板和所述彩膜基板對位正確。
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