[發明專利]一種帶鋼表面缺陷檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 201911107307.0
• 申請日: 2019-11-13
• 公開（公告）號: CN111047556A
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發明（設計）人: 張光浩;崔東順;王水根;黃廣斌;錢興
• 申請（專利權）人: 廣智微芯（揚州）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G01N21/88
• 代理公司: 北京卓嵐智財知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11624
• 代理人: 郭智

1.一種帶鋼表面缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

獲取帶鋼表面圖像；

對所述帶鋼表面圖像采用快速二分類檢測方法進行缺陷檢測，判斷所述帶鋼表面圖像是否包含缺陷，如果是，對包含缺陷的帶鋼表面圖像采用金字塔結構的缺陷檢測方法進行精準檢測和分類，確定所述帶鋼表面圖像中包含的缺陷的位置和種類；

如果否，對所述帶鋼表面圖像采用圖像處理方法進行缺陷檢測，確定所述帶鋼表面圖像是否包含缺陷，如果是，則對所述包含缺陷的帶鋼表面圖像采用金字塔結構的缺陷檢測方法進行精準檢測和分類，確定所述帶鋼表面圖像中包含的缺陷的位置和種類，如果否，則輸出無缺陷。

2.根據權利要求1帶鋼表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述快速二分類檢測方法包括：

對所述帶鋼表面圖像進行邊緣檢測，根據預先設定的邊緣像素值閾值將所述帶鋼表面圖像的邊緣圖像二值化，根據二值化后的邊緣圖像判斷所述帶鋼表面圖像是否包含銳利缺陷。

3.根據權利要求1帶鋼表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述圖像處理方法包括：

對所述帶鋼表面圖像進行圖像降噪處理；

對所述降噪的帶鋼表面圖像進行圖像增強處理；

對增強后的圖像進行小波變換處理，提取所述小波變換處理后的圖像缺陷的頻率域信息，同時對所述小波變換處理后的圖像進行高通濾波處理；

根據預先設定的圖像像素值閾值將濾波后的圖像二值化；

統計所述二值化后的圖像中缺陷區域面積，若大于預先設定的面積值閾值，則判斷為包含缺陷的圖像，若小于預先設定的面積值閾值，則判斷為一定不包含缺陷的圖像。

4.根據權利要求1帶鋼表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述對包含缺陷的帶鋼表面圖像采用金字塔結構的缺陷檢測方法進行精準檢測和分類，確定所述帶鋼表面圖像中包含的缺陷的位置和種類還包括：

確定所述金字塔的層數，通過提取預先建立的缺陷圖像集合X中缺陷的面積并組成面積集合M，對M中每個元素進行開方后得到矩形邊長集合L，對集合L進行聚類處理，類的數量即金字塔層數。

5.根據權利要求1帶鋼表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述對包含缺陷的帶鋼表面圖像采用金字塔結構的缺陷檢測方法進行精準檢測和分類，確定所述帶鋼表面圖像中包含的缺陷的位置和種類包括：

在每層金字塔中生成帶鋼表面圖像的特征圖，在每層金字塔特征圖中進行候選區域提議，使用非最大抑制方法去除重疊候選區域后，每層金字塔提議n個可能是缺陷區域的位置；

對n*金字塔層數個缺陷候選區域放入卷積網絡中，輸出每個候選區域的缺陷可能性、缺陷種類和微調后的區域位置。

6.根據權利要求2或3帶鋼表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述二值化處理包括：

所述二值化處理為將帶鋼表面圖像的像素值低于預先設定的像素值閾值的像素點的像素值設置為0，將像素值高于預先設定的像素值閾值的像素點的像素值設置為255。

7.一種帶鋼表面缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

圖像獲取單元，用于獲取帶鋼表面圖像；

第一檢測單元，用于對所述帶鋼表面圖像采用快速二分類檢測方法進行缺陷檢測，判斷所述帶鋼表面圖像是否包含缺陷；

第二檢測單元，用于對第一檢測單元沒有檢測出缺陷的帶鋼表面圖像采用圖像處理方法進行缺陷檢測，確定所述帶鋼表面圖像是否包含缺陷；

第三檢測單元，用于對第一檢測單元和第二檢測單元確定的包含缺陷的帶鋼表面圖像采用金字塔結構的缺陷檢測方法進行精準檢測和分類，確定所述帶鋼表面圖像中包含的缺陷的位置和種類。

8.根據權利要求7帶鋼表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測單元包括：

對所述帶鋼表面圖像進行邊緣檢測，根據預先設定的邊緣像素值閾值將所述帶鋼表面圖像的邊緣圖像二值化，根據二值化后的邊緣圖像判斷所述帶鋼表面圖像是否包含銳利缺陷。