[發明專利]eMMC固件測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201911105244.5
• 申請日: 2019-11-13
• 公開（公告）號: CN111124881B
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發明（設計）人: 張翔;葉欣;焦坦;黃裕全
• 申請（專利權）人: 深圳佰維存儲科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 深圳市華勤知識產權代理事務所(普通合伙) 44426
• 代理人: 隆毅

本發明公開一種eMMC固件測試方法，該eMMC固件測試方法包括：測試設備向eMMC發送信息獲取指令；根據所述eMMC上傳的反饋信息，判定所述測試設備是否與所述eMMC建立連接；當所述測試設備與所述eMMC建立連接后，根據實際需求設定所述eMMC的寫讀、擦讀、上下電的測試次數；根據設定的測試次數，按照先寫讀后擦讀再上下電的順序進行循環測試，以獲取測試結果。本發明eMMC固件測試方法能夠針對重點測試項目進行測試，以提高對于eMMC固件的測試效率。此外，本發明還公開一種eMMC固件測試裝置。

技術領域

本發明涉及固件測試技術領域，具體涉及一種eMMC固件測試方法及裝置。

背景技術

eMMC(EmbeddedMulti Media Card)是MCC協會針對手機或平板電腦等電子產品訂立的內嵌式存儲器標準規格，eMMC包括控制器、快閃存儲器和多媒體卡接口，在控制器中配置有固件，通過該固件可控制eMMC的運行過程。

眾所周知，固件是利用代碼編寫的特定程序，其可根據實際需求做出調整，比如，eMMC當前的讀寫速度為1M/s，而實際需求為2M/s，則需要對固件進行調整。而為確保eMMC能夠正常運行，需要對調整后的固件進行測試，以確定固件的有效性。

然而，目前還無法根據eMMC的測試重點做出具有針對性的測試，導致其測試效率較低。比如，當需要重點測試固件的防掉電能力時，應當在測試過程中增加對于固件上下電的測試次數，但當前的eMMC測試裝置還不具備此功能。

發明內容

本發明的主要目的在于提出一種eMMC固件測試方法，以解決現有的 eMMC固件測試方法的檢測效率較低的技術問題。

為解決上述技術問題，本發明提出一種eMMC固件測試方法，該eMMC 固件測試方法包括：包括：測試設備向eMMC發送信息獲取指令；根據所述 eMMC上傳的反饋信息，判定所述測試設備是否與所述eMMC建立連接；當所述測試設備與所述eMMC建立連接后，根據實際需求設定所述eMMC的寫讀、擦讀、上下電的測試次數；根據設定的測試次數，按照先寫讀后擦讀再上下電的順序進行循環測試，以獲取測試結果。

優選地，所述根據所述eMMC上傳的反饋信息，判定所述測試設備是否與所述eMMC建立連接包括：若接收到所述反饋信息，則判定所述測試設備與所述eMMC建立連接；若未接收到所述反饋信息，則判定所述測試設備未與所述 eMMC建立連接；其中，所述反饋信息為所述eMMC的型號及內存參數。

優選地，所述根據設定的測試次數，按照先寫讀后擦讀再上下電的順序進行循環測試，以獲取測試結果包括：在持續的上下電測試過程中，若所述 eMMC能夠正常執行擦、寫、讀指令，則判定所述固件的掉電保護功能正常；在持續的寫讀測試過程中，若讀出數據與寫入數據一致，則判定所述固件的讀寫功能正常；在持續的擦讀測試過程中，若讀出數據為零，則判定所述固件的擦除功能正常。

優選地，所述根據設定的測試次數，按照先寫讀后擦讀再上下電的順序進行循環測試，以獲取測試結果還包括：在所述先寫讀后擦讀再上下電測試過程中，若其中任何一個測試步驟出現錯誤，則停止測試并報錯。

優選地，所述在所述先寫讀后擦讀再上下電測試過程中，若其中任何一個測試步驟出現錯誤，則停止測試并報錯包括：確定出錯的測試步驟，并獲取出錯的數據塊地址。

本發明還提出一種eMMC固件測試裝置，該eMMC固件測試裝置包括：指令發送模塊，用于測試設備向eMMC發送信息獲取指令；連接判定模塊，用于根據所述eMMC上傳的反饋信息，判定所述測試設備是否與所述eMMC建立連接；測試設定模塊，用于當所述測試設備與所述eMMC建立連接后，根據實際需求設定所述eMMC的寫讀、擦讀、上下電的測試次數；循環測試模塊，用于根據設定的測試次數，按照先寫讀后擦讀再上下電的順序進行循環測試，以獲取測試結果。