[發(fā)明專利]第三代輪轂軸承單元負游隙直接檢測方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911103611.8 | 申請日： | 2019-11-12 |
| 公開（公告）號： | CN110657772B | 公開（公告）日： | 2020-09-01 |
| 發(fā)明（設計）人： | 趙順祥;金立寶;趙修雷;褚洪波;胡富生;路超;張亞東;王路元;鄭忠田;郝慶彬 | 申請（專利權）人： | 濟南易恒技術有限公司 |
| 主分類號： | G01B21/16 | 分類號： | G01B21/16 |
| 代理公司： | 濟南日新專利代理事務所(普通合伙) 37224 | 代理人： | 王書剛 |
| 地址： | 250100 山東省*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 第三代 輪轂 軸承 單元 游隙 直接 檢測 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種第三代輪轂軸承單元負游隙直接檢測方法，其特征是：
將第三代輪轂軸承單元定位支撐在工作臺上，對軸承單元的外圈上端面施加兩個不同的預設軸向壓力G1和G2，檢測預設軸向壓力下軸承單元的小內圈上端面的軸向位移；
當檢測到軸向壓力值等于設定壓力值G1時，將檢測的小內圈上端面的軸向位移值標記為S1，此時小內圈上端面所在位置為初始游隙基準位置；
繼續(xù)對外圈上端面施加軸向壓力，當檢測到施加的軸向壓力增加到設定值G2狀態(tài)時，將檢測的小內圈上端面的軸向位移值標記為S2；數(shù)值S2與S1的差值即為待檢第三代輪轂軸承單元的負游隙；
所述設定值G1趨向于0，是軸向壓力恰好剛接觸外圈的狀態(tài)下測量的力；
所述G2為通過標準軸承測算出的達到負游隙時的外圈所受到的軸向壓力。
2.根據權利要求1所述的第三代輪轂軸承單元負游隙直接檢測方法，其特征是：所述對工件施加的兩個預設軸向壓力G1和G2之間的差值是恒定的。
3.根據權利要求1所述的第三代輪轂軸承單元負游隙直接檢測方法，其特征是：所述測量外圈上端面與小內圈上端面之間相對位移，至少使用一個位移傳感器。
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