[發明專利]一種光源設備的檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 201911102746.2
• 申請日: 2019-11-12
• 公開（公告）號: CN110933399A
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 吳光斯
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 李健威

1.一種光源設備的檢測方法，其特征在于，步驟如下：

驅動至少一個攝像頭在標準光源設備下進行成像，獲取至少一張成像圖像；

對在所述標準光源設備下獲取的每張成像圖像進行處理，計算出每張成像圖像的成像參數組；

驅動至少一個攝像頭在待檢光源設備下進行成像，獲取至少一張成像圖像；

對在所述待檢光源設備下獲取的成像圖像進行處理，計算出每張成像圖像的成像參數組；

將同一攝像頭在所述標準光源設備下的成像參數組與在所述待檢光源設備下的成像參數組進行比較，以判斷所述待檢光源設備的發光效果與所述標準光源設備的發光效果之間的差異。

2.根據權利要求1所述的光源設備的檢測方法，其特征在于，對所述成像圖像進行處理，計算出每張成像圖像的成像參數組的步驟如下：

在每張成像圖像上選取尺寸和位置均相同的至少一個取值區域；

計算出每個取值區域的成像參數組，得到對應于同一張成像圖像的至少一組成像參數組。

3.根據權利要求2所述的光源設備的檢測方法，其特征在于，在每張成像圖像上選取尺寸和位置均相同的至少一個取值區域的步驟如下：

將獲取的每張成像圖像等分為M*N個圖像區域，M和N均為正整數；

在每張成像圖像的至少一個相同位置上各選取m*n個圖像區域，m*n個圖像區域組成一個取值區域，m和n均為正整數且m＜M、n＜N。

4.根據權利要求2或3所述的光源設備的檢測方法，其特征在于，每個取值區域均位于對應的成像圖像的外圍區域上。

5.根據權利要求4所述的光源設備的檢測方法，其特征在于，每張成像圖像上各選取四個取值區域，四個取值區域分別位于對應的成像圖像的四個外圍角上。

6.根據權利要求1所述的光源設備的檢測方法，其特征在于，每組成像參數組包括R通道亮度平均值、Gr通道亮度平均值、Gb通道亮度平均值和B通道亮度平均值。

7.根據權利要求1所述的光源設備的檢測方法，其特征在于，在所述標準光源設備下驅動每個攝像頭進行成像時，驅動每個攝像頭曝光至預定亮度，以獲取每個攝像頭在所述標準光源設備下的成像圖像；在所述待檢光源設備下驅動每個攝像頭進行成像時，驅動每個攝像頭曝光至預定亮度，以獲取每個攝像頭在所述待檢光源設備下的成像圖像。

8.根據權利要求1所述的光源設備的檢測方法，其特征在于，所述攝像頭的數量至少有兩個；在計算出每個攝像頭在所述標準光源設備下的成像參數組后，將每個攝像頭在所述標準光源設備下的成像參數組保存至對應的攝像頭內；在將同一攝像頭在所述標準光源設備下的成像參數組與在所述待檢光源設備下的成像參數組進行比較時，從每個攝像頭內讀取該攝像頭內所保存的其在所述標準光源設備下的成像參數組。

9.根據權利要求1所述的光源設備的檢測方法，其特征在于，將同一攝像頭在所述標準光源設備下的成像參數組與在所述待檢光源設備下的成像參數組進行比較，以判斷所述待檢光源設備的發光效果與所述標準光源設備的發光效果之間的差異的步驟如下：

計算同一攝像頭在所述標準光源設備下的成像參數組與在所述待檢光源設備下的成像參數組之間的參數差值組；

將每個攝像頭的參數差值組與預設的差值閾值組進行比較，以判斷所述待檢光源設備的發光效果與所述標準光源設備的發光效果之間的差異。

10.一種光源設備的檢測裝置，包括處理器和與所述處理器連接的存儲器，所述存儲器內儲存有供所述處理器執行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行該計算機程序時進行權利要求1-9中任一所述的檢測方法。