[發明專利]一種微流控芯片試劑超聲混勻方法有效
| 申請號： | 201911100164.0 | 申請日： | 2019-11-12 |
| 公開（公告）號： | CN110586214B | 公開（公告）日： | 2020-04-03 |
| 發明（設計）人： | 鄔鵬程;黃常青;高飛 | 申請（專利權）人： | 湖南樂準智芯生物科技有限公司 |
| 主分類號： | B01L3/00 | 分類號： | B01L3/00 |
| 代理公司： | 長沙正奇專利事務所有限責任公司 43113 | 代理人： | 盧宏;王麗霞 |
| 地址： | 410205 湖南省長沙市長沙高新開*** | 國省代碼： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 微流控 芯片 試劑 超聲 方法 | ||
1.一種微流控芯片試劑超聲混勻方法，其特征在于，包括：
超聲探頭向微流控芯片內的試劑儲存腔發出間歇式超聲，以振蕩試劑；
該間歇式超聲包括若干個超聲時段A2和非超聲時段B2交替循環，（A2+B2）×N2=C2，其中，N2為超聲時段A2與非超聲時段B2循環的總次數，C2為間歇式超聲混勻工作時間；
當超聲混勻工作時間C2結束后，所述超聲探頭停止發出超聲；
每個循環內所述非超聲時段B2的時長是超聲時段A2時長的五倍及以上；
每個循環內所述超聲時段A2不超過0.1秒；
所述微流控芯片試劑超聲混勻方法還包括所述超聲探頭位于試劑儲存腔上端發出間歇式超聲C1；
該間歇式超聲C1包括若干個超聲時段A1和非超聲時段B1交替循環，C1=（A1+B1）×N1，其中，N1為超聲時段A1與非超聲時段B1循環的總次數，C1為間歇式超聲混勻工作時間。
2.根據權利要求1所述的微流控芯片試劑超聲混勻方法，其特征在于，超聲探頭在試劑儲存腔上端與在試劑儲存腔下端之間的間距大于10mm時，所述超聲探頭位于試劑儲存腔上端發出間歇式超聲C1。
3.根據權利要求1所述的微流控芯片試劑超聲混勻方法，其特征在于，所述超聲探頭向微流控芯片的試劑儲存腔發出間歇式超聲時段C2之前，先執行連續超聲時段A＇，待連續超聲時段A＇結束后，再向微流控芯片的試劑儲存腔發出間歇式超聲C2和C1。
4.根據權利要求1所述的微流控芯片試劑超聲混勻方法，其特征在于，所述超聲探頭非工作時的初始位置與所述試劑儲存腔間隔設置；所述超聲探頭工作時，向試劑儲存腔靠攏并貼合；所述超聲探頭完成工作后，退回至初始位置。
5.根據權利要求1所述的微流控芯片試劑超聲混勻方法，其特征在于，每個循環內所述非超聲時段B1的時長是超聲時段A1時長的五倍及以上。
6.根據權利要求1所述的微流控芯片試劑超聲混勻方法，其特征在于，每個循環內所述超聲時段A1不超過0.1秒。
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