[發明專利]一種太陽能電池片色差和繞鍍的測量表征方法在審
| 申請號: | 201911098598.1 | 申請日: | 2019-11-12 |
| 公開(公告)號: | CN110970318A | 公開(公告)日: | 2020-04-07 |
| 發明(設計)人: | 姜澤光;林綱正;陳剛 | 申請(專利權)人: | 浙江愛旭太陽能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L31/18;H01L31/04 |
| 代理公司: | 浙江杭州金通專利事務所有限公司 33100 | 代理人: | 金麗英 |
| 地址: | 322000 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能電池 色差 測量 表征 方法 | ||
1.一種太陽能電池片色差和繞鍍的測量表征方法,其特征在于:包括以下步驟;
步驟一,獲取外觀圖片,采用圖像采集設備采集被測太陽能電池片的高清圖片;
步驟二,校準圖片尺寸,采用計算機軟件校準所述圖片尺寸,使所述圖片中太陽能電池片的大小與所述被測太陽能電池片相同;
步驟三,選取測量區域,選取所述圖片中的太陽能電池片包含太陽能電池片邊框的測量區域,所述測量區域不包含石墨舟在太陽能電池片上留下的卡點位置;
步驟四,生成測量數據,采用計算機軟件對所述測量區域進行灰度值計算,輸出一組灰度值數據,所述灰度值數據包括一組坐標及每個所述坐標對應的灰度值;
步驟五,處理測量數據,對所述一組灰度值數據進行處理,得出色差和繞鍍值數據。
2.如權利要求1所述的太陽能電池片色差和繞鍍的測量表征方法,其特征在于:所述步驟五包括以下流程;
首先,去除框選非電池片區域的數據,刪除所述一組灰度值數據兩側灰度值大于50-100的數據,并同時刪除對應的坐標,使剩下的坐標數據列中最后一個數值減去第一個數值近似等于電池片的邊長;
其次,定義一個肉眼可見顏色不均的臨界數值,作為判斷色差和繞鍍的距離終點,范圍是10-70;
最后,計算色差和繞鍍值,在經過處理后的數據表中,分別計算數據列兩端灰度值列數據小于50-100時對應的坐標減去臨界數值10-70對應的坐標,得到兩個數值,取兩個數值的平均值得到色差和繞鍍值數據。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





