[發明專利]用于在間接遠場系統中進行近場重建的方法和系統在審
| 申請號： | 201911094299.0 | 申請日： | 2019-11-11 |
| 公開（公告）號： | CN112213566A | 公開（公告）日： | 2021-01-12 |
| 發明（設計）人： | 伯諾伊特·德拉特;科比特·羅威爾 | 申請（專利權）人： | 羅德施瓦茲兩合股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人： | 何月華 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 間接 系統 進行 近場 重建 方法 | ||
1.一種用于在間接遠場系統中進行近場重建的方法，所述方法包括如下步驟：
在適當幾何定義的距離(R0)處針對直接球形近場系統中的正交場分量測量參考天線(14)，
針對間接遠場系統中的正交場分量測量所述參考天線(14)，以及
相對于所述直接球形近場系統中的所述正交場分量優化所述間接遠場系統中的所述正交場分量。
2.根據權利要求1所述的方法，
其中，所述方法還包括如下步驟：應用傅里葉變換，從而在其它距離處變換所述直接球形近場系統中的所述正交場分量。
3.根據權利要求1或2所述的方法，
其中，所述方法還包括如下步驟：識別等效距離(Req)，使得在所述間接遠場系統中測量的所述正交場分量最接近變換后的所述直接球形近場系統中的所述正交場分量。
4.根據權利要求3所述的方法，
其中，所述方法還包括如下步驟：通過利用所述間接遠場系統的所述等效距離(Req)，按照振幅和相位變換所述正交場分量。
5.根據權利要求4所述的方法，
其中，所述方法還包括如下步驟：通過正向和/或反向傳播所述間接遠場系統的變換后的所述振幅和相位來計算所述參考天線(14)在反應近場中的近場電流。
6.一種用于在間接遠場系統中進行近場重建的系統(10，20)，所述系統包括：
測量天線(11)，
測量單元(12)，和
處理單元(13)，
其中，所述測量單元(12)適用于在適當幾何定義的距離(R0)處針對直接球形近場系統中的正交場分量測量參考天線(14)，
其中，所述測量單元(12)還適用于針對間接遠場系統中的正交場分量測量所述參考天線(14)，以及
其中，所述處理單元(13)適用于相對于所述直接球形近場系統中的所述正交場分量優化所述間接遠場系統中的所述正交場分量。
7.根據權利要求6所述的系統，
其中，所述處理單元(13)還適用于應用傅里葉變換，從而在其它距離處變換所述直接球形近場系統中的所述正交場分量。
8.根據權利要求6或7所述的系統，
其中，所述處理單元(13)還適用于識別等效距離(Req)，使得在所述間接遠場系統中測量的所述正交場分量最接近變換后的所述直接球形近場系統中的所述正交場分量。
9.根據權利要求8所述的系統，
其中，所述等效距離(Req)對應于所述間接遠場系統的等效范圍長度。
10.根據權利要求8所述的系統，
其中，所述處理單元(13)還適用于通過利用所述間接遠場系統的所述等效距離(Req)按照振幅和相位變換所述正交場分量。
11.根據權利要求10所述的系統，
其中，所述處理單元(13)還適用于通過正向和/或反向傳播所述間接遠場系統的變換后的所述振幅和相位來計算所述參考天線(14)在反應近場中的近場電流。
12.根據權利要求6至11中任一項所述的系統，
其中，所述系統(10，20)還包括轉盤(16)，所述轉盤(16)適用于使所述參考天線(14)相對于所述測量天線(11)沿至少兩個軸旋轉。
13.根據權利要求6至12中任一項所述的系統，
其中，所述系統(10，20)還包括反射器(21)，優選地，所述反射器(21)為成形反射器。
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