[發明專利]故障內存判定方法、裝置及電子設備有效
| 申請號: | 201911090251.2 | 申請日: | 2019-11-08 |
| 公開(公告)號: | CN110955549B | 公開(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發明(設計)人: | 劉顯 | 申請(專利權)人: | 北京字節跳動網絡技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/07 | 分類號: | G06F11/07 |
| 代理公司: | 北京風雅頌專利代理有限公司 11403 | 代理人: | 李弘 |
| 地址: | 100041 北京市石景山區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 故障 內存 判定 方法 裝置 電子設備 | ||
1.一種故障內存判定方法,其特征在于,包括:
獲取目標對象中包含的多個內存的拓撲信息;
基于所述拓撲信息,對所述目標對象中內存的性能數據進行預估,得到第一性能指標;
針對所述目標對象中的目標內存,在所述目標內存中分配N倍于所述目標內存末級緩存大小的測試內存;
將所述測試內存平分為第一測試內存和第二測試內存,通過在所述第一測試內存和所述第二測試內存中相互復制數據的方式,確定所述目標內存的第二性能指標;
基于所述第一性能指標和所述第二性能指標,確定所述目標內存是否為故障內存。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取目標對象中包含的多個內存的拓撲信息,包括:
通過/proc/cpuinfo文件,獲得所述目標對象的硬件信息;
基于所述硬件信息,確定所述目標對象中包含的多個內存的拓撲信息。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述拓撲信息,對所述目標對象中內存的性能數據進行預估,包括:
基于所述拓撲信息,對所述目標對象中的內存的拓撲結構進行重構;
利用重構后的拓撲結構,對所述目標對象中內存的性能數據進行預估。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述利用重構后的拓撲結構,對所述目標對象中內存的性能數據進行預估,包括:
獲取所述目標對象中的歷史評測數據;
基于所述歷史評測數據,確定所述目標對象中內存的性能數據;
基于所述性能數據,確定所述第一性能指標。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述針對所述目標對象中的目標內存,分配N倍于所述目標內存末級緩存大小的測試內存,包括:
獲取所述末級緩存的大小;
將所述末級緩存大小N倍的內存,確定所述測試內存。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述通過在所述第一測試內存和所述第二測試內存中相互復制數據的方式,確定所述目標內存的第二性能指標,包括:
獲取所述目標內存中包含的所有頁面;
通過跨頁填充的方式,確定對所述第一測試內存和所述第二測試內存中的數據進行相互復制產生的第一復制時間和第二復制時間;
基于所述第一復制時間和所述第二復制時間,確定所述目標內存的第二性能指標。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述通過在所述第一測試內存和所述第二測試內存中相互復制數據的方式,確定所述目標內存的第二性能指標,包括:
在所述第一測試內存和所述第二測試內存中相互復制數據的過程中,設置預設空閑時間;
在預設空閑時間之外的時間內,通過預設的低級機器語言來執行復制操作。
8.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一性能指標和所述第二性能指標,確定所述目標內存是否為故障內存,包括:
判斷所述第一性能指標與所述第二性能指標的差異是否大于預設閾值;
若是,則將所述目標內存確定為故障內存。
9.一種故障內存判定裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,用于獲取目標對象中包含的多個內存的拓撲信息;
預估模塊,用于基于所述拓撲信息,對所述目標對象中內存的性能數據進行預估,得到第一性能指標;
分配模塊,用于針對所述目標對象中的目標內存,在所述目標內存中分配N倍于所述目標內存末級緩存大小的測試內存;
第一確定模塊,用于將所述測試內存平分為第一測試內存和第二測試內存,通過在所述第一測試內存和所述第二測試內存中相互復制數據的方式,確定所述目標內存的第二性能指標;
第二確定模塊,用于基于所述第一性能指標和所述第二性能指標,確定所述目標內存是否為故障內存。
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