[發(fā)明專利]一種焊點質(zhì)量檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911081412.1 | 申請日: | 2019-11-07 |
| 公開(公告)號: | CN110887846B | 公開(公告)日: | 2022-07-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王曉梅;李剛 | 申請(專利權(quán))人: | 西安郵電大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 710121 陜西省西安*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 質(zhì)量 檢測 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種焊點質(zhì)量檢測方法,該方法包括:持續(xù)以指定頻率在PCB板指定區(qū)域注入震動;單位時間內(nèi)以固定時間間隔連續(xù)獲取三原色光RGB照射下的電路板圖像;對電路板圖像中的焊點部分劃分有效子區(qū)域;對有效子區(qū)域圖像按照時間重組為RGB三路時間序列信號;采用獨立分量分析算法,獲取相關(guān)性最小的三路獨立分量;進行FFT變換,選出與有效子區(qū)域圖像相關(guān)性最大的一路獨立分量;根據(jù)獨立分量與典型值擬合程度,判斷焊點質(zhì)量。本發(fā)明通過持續(xù)以指定頻率注入震動,將有效子區(qū)域圖像重構(gòu)為時間序列信號,利用獨立分量分析算法和FFT變換獲取焊點震動頻譜特性,與典型值擬合,判斷焊點質(zhì)量,提高了焊點檢測的準確率和速度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及自動光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種焊點質(zhì)量檢測方法。
背景技術(shù)
當(dāng)前,印制電路板(Printed Circuit Board,PCB)缺陷檢測通常采用自動光學(xué)檢測(Automatic Optical Inspection,AOI)的方法進行,主要思路是通過CCD獲取PCB成品的表面狀態(tài),其后采用數(shù)字圖像處理和分類器的方式進行缺陷檢測。
比較成熟的檢測元器件焊點缺陷的方法大多是基于靜態(tài)的方法,通過CCD獲取PCB成品的表面狀態(tài)的單張圖像,自動提取每個焊點的局部圖像,并通過圖像處理技術(shù)進行特征提取,如顏色梯度,區(qū)域面積,周長,水力半徑等等典型特征,再使用分類器對提取特征進行分類來獲取焊點是否存在缺陷,將疑似缺陷的焊點顯示或標記出來,方便查看與檢修。
在實際應(yīng)用中,由于PCB上元器件尺寸越來越小,元器件密度越來越大,焊點樣本難以收集,分類器計算量大,準確率不高等問題,使得目前的檢測方法難以有效、準確、快速地檢測出元器件的焊點缺陷。
可見,現(xiàn)有技術(shù)中焊點質(zhì)量檢測方法存在難以有效、準確、快速地檢測出元器件的焊點缺陷的問題。
上述缺陷是本領(lǐng)域技術(shù)人員期望克服的。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
為了解決現(xiàn)有技術(shù)的上述問題,本發(fā)明提出了一種焊點質(zhì)量檢測方法,解決現(xiàn)有技術(shù)中的難以有效、準確、快速地檢測出元器件的焊點缺陷的問題。
(二)技術(shù)方案
為了達到上述目的,本發(fā)明采用的主要技術(shù)方案包括:
本發(fā)明一實施例提供一種焊點質(zhì)量檢測方法,包括以下步驟:
步驟1,持續(xù)以指定頻率在PCB板指定區(qū)域注入震動;
步驟2,單位時間內(nèi)以固定時間間隔連續(xù)獲取三原色光RGB照射下的電路板圖像;
步驟3,對電路板圖像中的焊點部分劃分有效子區(qū)域;
步驟4,對有效子區(qū)域圖像按照時間重組為RGB三路時間序列信號;
步驟5,采用獨立分量分析算法,獲取相關(guān)性最小的三路獨立分量;
步驟6,進行FFT變換,選出與有效子區(qū)域圖像相關(guān)性最大的一路獨立分量;
步驟7,根據(jù)相關(guān)性最大的獨立分量與典型值擬合程度,判斷焊點質(zhì)量。
本發(fā)明的一個實施例中,所述步驟1中的指定區(qū)域,為PCB布板時設(shè)定的震動頻率注入點,便于PCB板生產(chǎn)后的測試。
本發(fā)明的一個實施例中,所述步驟3中對電路板圖像中的焊點部分劃分有效子區(qū)域,還包括:
結(jié)合PCB軟件生成的焊點圖,通過圖像的局部均值、標準差對局部區(qū)域做粗檢測;
根據(jù)所述粗檢測的結(jié)果,通過梯度尋找邊緣,確定焊點有效子區(qū)域。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





