[發明專利]用于檢測高反鏡表面疵病激光散射成像裝置的照明系統在審
| 申請號： | 201911074183.0 | 申請日： | 2019-11-06 |
| 公開（公告）號： | CN110749605A | 公開（公告）日： | 2020-02-04 |
| 發明（設計）人： | 高愛華;韋瑤;秦文罡;侯勁堯;劉衛國;閆麗榮 | 申請（專利權）人： | 西安工業大學 |
| 主分類號： | G01N21/95 | 分類號： | G01N21/95;G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 61114 西安新思維專利商標事務所有限公司 | 代理人： | 黃秦芳 |
| 地址： | 710032 陜*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一體式光源 成像器件 陷光 照射 透鏡 接收反射光 可移動組件 空心圓錐體 整形透鏡組 被測對象 表面疵病 成像裝置 對稱分布 黑化處理 激光散射 均勻排列 一次成像 一字線型 照明系統 支撐縱桿 激光器 高反鏡 匯聚光 機械臂 夾角為 聚焦光 檢測 光軸 套筒 裝夾 盲區 發現 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于檢測高反鏡表面疵病激光散射成像裝置的照明系統，其特征在于：包括多個在180°范圍內形成聚焦光幕的一體式光源(9)，用于接收反射光的多個陷光器(4)以成像器件(3)為中心與一體式光源(9)對稱分布。
2.根據權利要求1所述的用于檢測高反鏡表面疵病激光散射成像裝置的照明系統，其特征在于：三個一體式光源(9)在180°內均勻排列，兩兩匯聚光幕光軸之間的夾角為60°。
3.根據權利要求1或2所述的用于檢測高反鏡表面疵病激光散射成像裝置的照明系統，其特征在于：一體式光源(9)包括一字線型激光器(11)以及由兩個透鏡構成的整形透鏡組(12)，固定裝夾在長方體套筒內。
4.根據權利要求3所述的用于檢測高反鏡表面疵病激光散射成像裝置的照明系統，其特征在于：陷光器(4)整體為長方體，內部為空心圓錐體，其內外黑化處理。
5.根據權利要求4所述的用于檢測高反鏡表面疵病激光散射成像裝置的照明系統，其特征在于：成像器件(3)為CCD成像器件或CMOS成像器件，成像器件(3)與支撐縱桿(1)和機械臂(2)構成可移動組件。
6.根據權利要求5所述的用于檢測高反鏡表面疵病激光散射成像裝置的照明系統，其特征在于：一體式光源(9)設置在光源支架(10)上，陷光器(4)設置在陷光器支架(5)上，光源支架(10)和陷光器支架(5)上帶有調節角度和高度的部件。
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