[發明專利]產生時鐘的方法以及執行該方法的時鐘轉換器和測試系統

在審

• 申請號: 201911069455.8
• 申請日: 2019-11-05
• 公開（公告）號: CN111180002A
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 金容正;張成權
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 連飛

一種輸出用于測試半導體器件的時鐘信號的時鐘轉換器包括：時鐘輸入端，用于接收具有輸入頻率的輸入時鐘；第一頻率轉換電路，用于接收輸入時鐘并通過使用固定乘數增大輸入頻率來輸出具有第一頻率的第一轉換時鐘；第二頻率轉換電路，用于接收輸入時鐘并通過使用可變乘數增大輸入頻率來輸出具有大于第一頻率的第二頻率的第二轉換時鐘；以及選擇電路，用于根據模式選擇信號輸出第一轉換時鐘或第二轉換時鐘。

相關申請的交叉引用

通過引用，將2018年11月9日向韓國知識產權局提交的標題為“產生輸出到半導體器件用于測試半導體器件的時鐘的方法，以及包括該方法的時鐘轉換器和測試系統”的韓國專利申請第10-2018-0137602號的全部內容結合于此。

技術領域

實施例涉及一種產生輸出到半導體器件用于測試該半導體器件的時鐘的方法，以及執行該方法的時鐘轉換器和測試系統。

背景技術

隨著電子工業和用戶需求的快速發展，電子設備已經變得更加緊湊、高性能和大容量。因此，包括在電子設備中的半導體器件的測試過程也已經變得復雜。作為示例，高性能存儲器半導體器件執行各種功能，例如具有高帶寬的讀操作和寫操作。當這種高性能存儲器半導體器件受驗(DUT)時，需要設計一種測試設備來以高帶寬進行測試。

發明內容

根據一個實施例，提供了一種時鐘轉換器，以輸出用于測試半導體器件的時鐘信號，該時鐘轉換器包括：時鐘輸入端，用于接收具有輸入頻率的輸入時鐘；第一頻率轉換電路，用于接收輸入時鐘并通過使用固定乘數增大輸入頻率來輸出具有第一頻率的第一轉換時鐘；第二頻率轉換電路，用于接收輸入時鐘并通過使用可變乘數增大輸入頻率來輸出具有大于第一頻率的第二頻率的第二轉換時鐘；以及選擇電路，用于根據模式選擇信號輸出第一轉換時鐘或第二轉換時鐘。

根據實施例，提供了一種被配置為測試半導體器件的半導體測試系統，該半導體測試系統包括：自動測試裝備(automatic test equipment，ATE)和包括時鐘轉換器的電連接到該ATE的插座板，該ATE包括測試邏輯，該測試邏輯用于發送和接收用于測試半導體器件的數據，輸出具有輸入頻率的輸入時鐘，并根據用于測試半導體器件的輸出時鐘的頻帶來輸出具有不同值的模式選擇信號。該時鐘轉換器包括：時鐘輸入端，用于接收輸入時鐘；第一頻率轉換電路，用于接收輸入時鐘并輸出具有大于輸入頻率的第一頻率的第一轉換時鐘；第二頻率轉換電路，用于接收輸入時鐘并輸出具有大于第一頻率的第二頻率的第二轉換時鐘；以及選擇電路，用于根據模式選擇信號向半導體器件輸出基于第一轉換時鐘或第二轉換時鐘的輸出時鐘。

根據實施例，提供了一種轉換用于測試半導體器件的時鐘信號的方法，該方法包括：接收具有輸入頻率的輸入時鐘；通過將輸入頻率乘以固定乘數，產生具有大于輸入頻率的第一頻率的第一轉換時鐘；通過將輸入頻率乘以可變乘數，產生具有大于第一頻率的第二頻率的第二轉換時鐘；以及根據模式選擇信號輸出第一轉換時鐘或第二轉換時鐘。

附圖說明

通過參考附圖詳細描述示例性實施例，特征對于本領域技術人員將變得顯而易見，附圖中：

圖1示出了根據實施例的測試系統；

圖2示出了根據實施例的插座板；

圖3示出了用于解釋根據實施例的時鐘轉換器的圖；

圖4示出了用于解釋根據實施例的XOR門的圖；

圖5示出了用于解釋根據實施例的第二頻率轉換電路的圖；

圖6示出了用于詳細解釋根據實施例的第二頻率轉換電路的圖；

圖7示出了用于解釋根據實施例的第二頻率轉換電路的圖；

圖8A和圖8B示出了根據實施例的第一頻率轉換電路中的輸入時鐘、輸出時鐘和數據；