[發明專利]一種軟膏劑錐入度測定儀

在審

• 申請號: 201911067420.0
• 申請日: 2017-08-01
• 公開（公告）號: CN110595950A
• 公開（公告）日: 2019-12-20
• 發明（設計）人: 劉素萍
• 申請（專利權）人: 劉素萍
• 主分類號: G01N11/12
• 分類號: G01N11/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種軟膏劑錐入度測定儀，包括架體(1)，所述架體(1)上設有測試針(2)，所述測試針(2)下端設有測試錐頭(3)，所述架體(1)內設有用于供測試針(2)豎向下墜入測試材料的導向孔(4)，其特征在于：所述架體(1)上設有用于對測試后的測試材料的軟硬度進行調勻的調勻結構(6),所述調勻結構(6)包括設在架體(1)一側且對準測試材料的容器設置的加稠容器(6.1)和稀釋容器(6.2)，所述加稠容器(6.1)內設有加稠液，所述加稠容器(6.1)上設有用于控制加稠液與測試材料的通斷的第一閥體(6.3)，所述稀釋容器(6.2)內設有稀釋液，所述稀釋容器(6.2)上設有用于控制稀釋液與測試材料的通斷的第二閥體(6.4)。

2.根據權利要求1所述的一種軟膏劑錐入度測定儀，其特征在于：所述導向孔(4)一側設有感應槽，所述感應槽沿豎向向下依序包括加稠感應段(6.5)、正常稠度段(6.6)和稀釋感應段(6.7)，所述加稠感應段(6.5)設有第一感光探頭(6.8)，所述稀釋感應段(6.7)設有第二感光探頭(6.9)，所述測試針(2)上設發光件(6.10)，所述第一感光探頭(6.8)與第一閥體(6.3)電連接以在接收發光件(6.10)的信號后控制第一閥體(6.3)打開以對測試材料進行稀釋，所述第二感光探頭(6.9)與第二閥體(6.4)電連接以在接收發光件(6.10)的信號后控制第二閥體(6.4)打開以對測試材料進行加稠。

3.根據權利要求1所述的一種軟膏劑錐入度測定儀，其特征在于：所述軟膏劑錐入度測定儀設有用于供測試針(2)周向同時解除限位的限位結構(5)，所述限位結構(5)包括設在架體(1)內且套設在測試針(2)周向的限位盤(5.1)，所述限位盤(5.1)內沿周向間隔設置有多個用于與測試針周壁相抵的限位柱(5.2)，所述限位盤(5.1)內沿徑向設有供限位柱(5.2)移動的移動槽(5.3)，所述限位柱(5.2)上側凸起設有導向塊(5.4)，所述限位盤(5.1)內相對移動槽(5.3)斜向設置有供導向塊(5.4)滑動以在限位盤(5.1)旋轉時帶動限位柱(5.2)在移動槽(5.3)內移動的導向槽(5.5)，所述限位盤(5.1)外周凸起設有驅動塊(5.6)，所述架體(1)上設有驅動桿(5.7)，所述驅動桿(5.7)一端與驅動塊(5.6)相抵，所述驅動桿(5.7)中部沿周向凸起設有擋環(5.8)，所述擋環(5.8)與架體(1)內壁通過第一彈簧(5.9)相抵以將驅動桿(5.7)彈性推動驅動塊(5.6)，所述驅動桿(5.7)另一端設有供操作者拉動以解除驅動桿(5.7)對驅動塊(5.6)的彈性相抵狀態的拉塊(5.10)，所述架體(1)上設有定位探頭(5.11)，所述定位探頭(5.11)校準標準位置線(5.12)以供測試錐頭(3)的下端定位。

4.根據權利要求1所述的一種軟膏劑錐入度測定儀，其特征在于：所述測試錐頭(3)與測試針(2)可拆式連接，所述架體(1)上設有錐頭更換結構(7)，所述錐頭更換結構(7)包括設置在架體(1)上的環形轉盤(7.1)，所述環形轉盤(7.1)通過轉軸(7.2)與架體(1)轉動連接，所述環形轉盤(7.1)沿周向間隔設有多個沿徑向排布的通孔(7.1.1)，每個通孔(7.1.1)內均設有測試錐頭(3)，所述測試錐頭(3)包括錐體部(3.1)和柄部(3.2)，所述測試錐頭(3)與測試針(2)可拆式連接指的是所述柄部(3.2)與通孔(7.1.1)間隙配合，所述測試針(2)下端凸起設有頂塊，所述柄部(3.2)內設有頂開結構(7.3)，所述頂開結構(7.3)在測試錐頭(3)安裝在通孔(7.1.1)內時使測試錐頭(3)與環形轉盤(7.1)沿徑向限位、在測試針(2)下落時頂塊頂住頂開結構(7.3)而使測試錐頭(3)與環形轉盤(7.1)脫離。