[發明專利]陣列基板潛在故障激發及檢測方法、顯示面板及顯示裝置

有效

• 申請號: 201911063446.8
• 申請日: 2019-10-31
• 公開（公告）號: CN110728937B
• 公開（公告）日: 2022-01-21
• 發明（設計）人: 李廣耀;王東方;汪軍;王海濤;王慶賀;倪柳松;黃先純;胡洋;陳皖青;周超
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3266
• 代理公司: 北京市立方律師事務所 11330
• 代理人: 張筱寧

本申請實施例提供了一種陣列基板潛在故障激發及檢測方法、顯示面板及顯示裝置。陣列基板包括柵極驅動區域，柵極驅動區域設置有柵極驅動電路，柵極驅動電路包括多個級聯的移位寄存單元，移位寄存單元包括第一檢測點、第二檢測點以及連接在第一檢測點和第二檢測點之間的子電路。本實施例的故障激發方法包括：在預設時長內，將第一檢測點與第二檢測點之間的壓差設置為預定壓差，若子電路不存在潛在故障，則子電路不導通，若子電路存在潛在故障，則潛在故障在預定壓差的作用下被激發為實際故障。本實施例能夠避免存在潛在故障的陣列基板進入后續制程，以降低生產成本并提高良品率；并能夠避免施加在兩個檢測點之間的電壓對陣列基板產生破壞。

技術領域

本申請涉及顯示技術領域，具體而言，本申請涉及一種陣列基板潛在故障激發及檢測方法、顯示面板及顯示裝置。

背景技術

有機發光二極管(OrganicLight-Emitting Diode，OLED)產品具有輕薄、亮度高、功耗低、柔性好等優點，因此具有良好的應用前景。制約OLED產品發展的主要原因是OLED的生產成本較高，而造成OLED生產成本較高的主要原因是蒸鍍制程的成本高。因此，需要對陣列基板進行測試，以避免存在故障的陣列基板進入到蒸鍍制程。

針對陣列基板GOA(Gate Drive On Array，陣列基板柵極驅動)區域的信賴性測試，是陣列基板的重要測試之一。GOA區域存在的實際故障很容易在信賴性測試中檢測出來，但存在的潛在故障，由于潛在故障在沒有惡化而轉變為實際故障之前，不會引發功能性問題，因此，潛在故障難以在信賴性測試中檢測出來。

這些潛在故障隨時可能在后續制程或OLED產品的使用中轉變為實際故障。這些存在潛在故障的陣列基板進入后續制程，一方面會造成資源的浪費，使得生產成本增加，另一方面這些存在潛在故障的OLED產品的使用壽命遠低于正常的OLED產品，并不適宜流入市場。

發明內容

本申請針對現有方式的缺點，提出一種陣列基板潛在故障激發及檢測方法、顯示面板及顯示裝置，用以解決現有技術存在的陣列基板GOA區域的潛在故障無法在GOA的信賴性測試中檢測出來的技術問題。

第一個方面，本申請實施例提供了一種陣列基板潛在故障激發方法，所述陣列基板包括柵極驅動區域，所述柵極驅動區域包括導電層和絕緣層，所述導電層和所述絕緣層形成柵極驅動電路，所述柵極驅動電路包括多個級聯的移位寄存單元，所述移位寄存單元包括第一檢測點、第二檢測點以及連接在所述第一檢測點和所述第二檢測點之間的子電路，其特征在于，所述陣列基板的潛在故障激發方法包括：

在預設時長內，將所述第一檢測點與所述第二檢測點之間的壓差設置為預定壓差，若所述子電路不存在潛在故障，則所述子電路不導通以防止所述預定壓差損壞所述陣列基板，若所述子電路存在潛在故障，則所述潛在故障在所述預定壓差的作用下被激發為實際故障以實現對所述陣列基板的潛在故障的激發。

可選地，所述潛在故障包括：所述絕緣層的潛在裂紋、所述導電層的潛在裂紋和/或位于所述導電層和所述絕緣層之間的顆粒物；所述實際故障包括：所述絕緣層的潛在裂紋惡化所導致的所述子電路短路、所述導電層的潛在裂紋惡化所導致是所述子電路的斷路、和/或位于所述導電層和所述絕緣層之間的顆粒物使得所述絕緣層開裂所導致的所述子電路短路。

可選地，所述預定壓差范圍為10V～70V。

可選地，所述預設時長為10S～30S。

可選地，所述陣列基板還包括位于顯示區的掃描信號線，所述移位寄存單元還包括輸出控制端和至少一個信號輸出端，所述子電路包括輸出控制子電路，所述輸出控制子電路包括至少一個輸出控制薄膜晶體，所述輸出控制薄膜晶體的柵極與所述輸出控制端電連接，所述輸出控制薄膜晶體管的漏極與所述信號輸出端連接，所述信號輸出端與所述掃描信號線連接，若所述子電路不存在潛在故障，則所述子電路不導通以防止所述預定壓差損壞所述陣列基板，包括：