[發明專利]一種軸承套圈磨削振紋的機器視覺檢測系統和方法

在審

• 申請號: 201911059624.X
• 申請日: 2019-11-01
• 公開（公告）號: CN110618140A
• 公開（公告）日: 2019-12-27
• 發明（設計）人: 廖金鑫
• 申請（專利權）人: 杭州深度視覺科技有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956;G01N21/01
• 代理公司: 11227 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 溫可睿

1.一種軸承套圈磨削振紋的機器視覺檢測系統，其特征在于，所述系統包括：強方向性直射光光源、面陣相機和上位機；

所述強方向性直射光光源，用于以指定的角度和光強照射待測軸承套圈；

所述面陣相機，用于拍攝所述待測軸承套圈，并將所述待測軸承套圈的表面圖像發送至所述上位機；

所述上位機，用于通過分析所述表面圖像的亮度變化曲線檢測所述待測軸承套圈上的磨削振紋。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述強方向性直射光光源，包括：發散點光源、指定照射方向的特殊點光源、結合平面或曲面鏡面反射的點光源和結合光學透鏡折射的點光源中的一個或多個。

3.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述系統還包括：擴束光學透鏡，所述擴束光學透鏡設置于所述強方向性直射光光源與所述待測軸承套圈之間的光路上；

所述擴束光學透鏡，用于調整所述強方向性直射光光源照射到所述待測軸承套圈上的光斑大小。

4.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述系統還包括：轉動電機，所述轉動電機設置于所述待測軸承套圈底部；

所述轉動電機，用于帶動所述待測軸承套圈旋轉。

5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述上位機，具體用于：

提取所述表面圖像中感興趣區域對應的子圖像；對所述子圖像進行合規化處理得到標準子圖像；掃描式滑動提取所述標準子圖像內的子區域；通過對所述子區域的亮度變化曲線進行曲率分析確定所述子區域內的磨削振紋、以及所述磨削振紋在所述子區域內的位置。

6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述上位機，具體用于：

提取所述表面圖像中感興趣區域對應的子圖像；對所述子圖像進行合規化處理得到標準子圖像；掃描式滑動提取所述標準子圖像內的子區域；計算所述子區域的亮度變化曲線的頻譜圖；通過對所述頻譜圖進行非預期頻率分量分析確定所述子區域內的磨削振紋。

7.一種軸承套圈磨削振紋的機器視覺檢測方法，其特征在于，所述方法應用于軸承套圈磨削振紋的機器視覺檢測系統中的上位機，所述方法包括：

接收面陣相機發送的待測軸承套圈的表面圖像，所述表面圖像是由所述面陣相機拍攝所述待測軸承套圈得到的，所述待測軸承套圈被強方向性直射光光源以指定的角度和光強照射；

通過分析所述表面圖像的亮度變化曲線檢測所述待測軸承套圈上的磨削振紋。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述強方向性直射光光源，包括：發散點光源、指定照射方向的特殊點光源、結合平面或曲面鏡面反射的點光源和結合光學透鏡折射的點光源中的一個或多個。

9.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述通過分析所述表面圖像的亮度變化曲線檢測所述待測軸承套圈上的磨削振紋，包括：

提取所述表面圖像中感興趣區域對應的子圖像；

對所述子圖像進行合規化處理得到標準子圖像；

掃描式滑動提取所述標準子圖像內的子區域；

通過對所述子區域的亮度變化曲線進行曲率分析確定所述子區域內的磨削振紋、以及所述磨削振紋在所述子區域內的位置。

10.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述通過分析所述表面圖像的亮度變化曲線檢測所述待測軸承套圈上的磨削振紋，包括：

提取所述表面圖像中感興趣區域對應的子圖像；

對所述子圖像進行合規化處理得到標準子圖像；

掃描式滑動提取所述標準子圖像內的子區域；

計算所述子區域的亮度變化曲線的頻譜圖；

通過對所述頻譜圖進行非預期頻率分量分析確定所述子區域內的磨削振紋。