[發明專利]光電效應截止電壓的測量方法

在審

• 申請號: 201911058843.6
• 申請日: 2019-11-01
• 公開（公告）號: CN110767055A
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: 胡再國;李娟;雍志華
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G09B23/22
• 分類號: G09B23/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.光電效應截止電壓的測量方法，光源（1）發出的光線（5）經過透光孔（2）后、從進光孔（4）照射產生光電效應的金屬表面，其特征是：光電效應金屬表面發射電子；在光電效應金屬表面的前方有一個圓圈金屬電極，在圓圈金屬電極與光照射的光電效應金屬表面之間形成電流；為表述方便，產生光電效應的金屬稱為電子源金屬（6）、即產生光電子的金屬稱為電子源金屬（6），圓圈金屬電極簡稱為光電子接受部件（7），將電子源金屬（6）連接到電容（8）的一端、將光電子接受部件（7）連接到電容（8）的另一端，光電效應產生的電流對電容（8）充電，電容（8）的電壓使電子源金屬（6）和光電子接受部件（7）之間形成反向電場阻礙光電子進一步向光電子接受部件（7）運動，當電容（8）兩端的電壓不再升高的時候，此時電容（8）兩端的電壓就是光源（1）波長對應光電效應的截止電壓。

2.根據權利要求1所述的光電效應截止電壓的測量方法，其特征是：光源（1）產生的光電流在10^-8-10^-9A。

3.根據權利要求1所述的光電效應截止電壓的測量方法，其特征是：采用數字萬用表的直流電壓檔測量電容（8）兩端的電壓，數字萬用表的直流電壓檔的內阻在10⁷-10⁸歐姆。

4.根據權利要求1所述的光電效應截止電壓的測量方法，其特征是：電容（8）的容量為0.1*10^-6F -470*10^-6F。

5.根據權利要求1所述的光電效應截止電壓的測量方法，其特征是：光源（1）產生的光電流在10^-9A；采用數字萬用表的2V直流電壓檔每隔10分鐘測量一次電容（8）兩端的電壓、每次測量時間在1秒之內，數字萬用表的2V直流電壓檔的內阻在10⁷歐姆；電容（8）的容量為10*10^-6F。

6.根據權利要求1所述的光電效應截止電壓的測量方法，其特征是：光源（1）產生的光電流在10^-9A；采用數字萬用表的2V直流電壓檔每隔10分鐘測量一次電容（8）兩端的電壓、每次測量時間在1-2秒，數字萬用表的2V直流電壓檔的內阻在10⁸歐姆；電容（8）的容量為1*10^-6F。

7.根據權利要求1所述的光電效應截止電壓的測量方法，其特征是：光源（1）產生的光電流在10^-9A；采用數字直流電壓檔測量電容（8）兩端的電壓，數字直流電壓檔量程為10V，數字直流電壓檔的內阻在10¹⁰歐姆；電容（8）的容量為0.1*10^-6F，電容的擊穿電壓大于10V。