[發明專利]雙棱鏡折射率的測量方法

有效

• 申請號: 201911058820.5
• 申請日: 2019-11-01
• 公開（公告）號: CN110779690B
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 胡再國;李娟;雍志華
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/41
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.雙棱鏡折射率的測量方法，激光器、雙棱鏡和光屏通過支架固定在光具座的導軌上，其特征是：激光器的出射面平行于光屏，光屏垂直于光具座的長度方向，激光器的出射孔與光屏中心等高，等高是指光屏靠近激光器，調節激光器豎直方向的高度或者光屏豎直方向的高度使激光照射到光屏中心，然后將光屏移到光具座的另一端，調節激光器的俯仰和水平調節螺釘，使激光照射到光屏的中心；然后在激光器和光屏之間插入雙棱鏡，雙棱鏡的棱朝向激光器，雙棱鏡的底面朝向光屏，雙棱鏡水平方向布置，即雙棱鏡的棱水平、雙棱鏡的底面垂直于光具座的長度方向，即旋轉雙棱鏡的支撐軸和對雙棱鏡進行俯仰調節使雙棱鏡的兩個反射光點對稱分布在激光器的出射孔豎直方向的兩側；測量激光孔兩側的兩個反射光斑內側之間的距離Hs，測量雙棱鏡到激光器出射面之間的距離Ds；測量光屏兩個光斑外側之間的距離Hc，測量光屏到雙棱鏡之間的距離Dc；則雙棱鏡的折射率n=2*（Hc/Dc）/(Hs/Ds)+1。

2.根據權利要求1所述的雙棱鏡折射率的測量方法，其特征是：激光器的出射孔表面的水平方向和豎直方向都有毫米刻度尺刻度線，豎直方向和水平方向的毫米刻度尺刻度線的交點為激光出射孔的中心，即豎直刻度線的0點和水平刻度線的0點都在激光出射孔的中心，即豎直刻度線的中心和水平刻度線的中心都在激光出射孔的中心。

3.根據權利要求1所述的雙棱鏡折射率的測量方法，其特征是：光屏水平方向和豎直方向都有毫米刻度尺刻度線，豎直方向和水平方向的毫米刻度尺的交點為光屏的中心；即豎直刻度線的0點和水平刻度線的0點都在光屏的中心，即豎直刻度線的中心和水平刻度線的中心都在光屏的中心。

4.根據權利要求1所述的雙棱鏡折射率的測量方法，其特征是：雙棱鏡位于光屏和激光器的中心，即Dc=Ds，則雙棱鏡的折射率簡化為n=2*Hc/Hs+1。