[發明專利]一種發射藥表面殘留硫脫除方法

有效

• 申請號: 201911058680.1
• 申請日: 2019-11-01
• 公開（公告）號: CN110790618B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: 肖忠良;李世影;丁亞軍;梁昊;趙先正;陶忠安
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: C06B21/00
• 分類號: C06B21/00
• 代理公司: 重慶市信立達專利代理事務所(普通合伙) 50230
• 代理人: 陳炳萍

1.一種發射藥表面殘留硫脫除方法，其特征是：具體包括以下步驟：

1)脫除水溶性硫化物，稱取100g表面殘留硫的發射藥樣品，量取500ml水，然后將稱取的發射藥樣品和量取的水加入帶有攪拌裝置的三口燒瓶內，并將三口燒瓶放入超聲波清洗機中進行超聲清洗，設置超聲波清洗機的超聲清洗溫度為50-100℃，超聲清洗的時間設置為5-60min，得到脫除表面殘留的水溶性硫化物的發射藥樣品；

2)脫除單質硫，將步驟1)中得到的脫除表面殘留的水溶性硫化物的發射藥樣品和500ml反應試劑溶液加入帶有攪拌裝置的三口燒瓶內，并進行攪拌反應，并控制攪拌反應的溫度和時間，然后將攪拌反應完成后的發射藥樣品洗滌過濾，脫除發射藥樣品表面殘余的硫單質，然后將脫除表面殘余的硫單質的發射藥樣品置于60℃水浴烘箱內干燥2d，得到脫除表面殘留硫的發射藥樣品；其中，所述的反應試劑溶液為過氧化氫溶液、濃度為0.1～5wt％的氫氧化鈉溶液和濃度為0.1～15wt％的稀硝酸溶液中的一種；

3)硫元素含量檢測，采用元素分析儀分別對未脫硫發射藥樣品、經過步驟1)處理后的發射藥樣品和經過步驟2)處理后的發射藥樣品進行硫元素含量分析。

2.根據權利要求1所述的一種發射藥表面殘留硫脫除方法，其特征是：步驟2)中進行攪拌反應的溫度為室溫-80℃，攪拌反應的時間為5-360min。