[發明專利]復合滲碳劑、用于檢測奧氏體晶粒度的滲碳方法以及奧氏體晶粒度的檢測方法有效
| 申請號： | 201911057133.1 | 申請日： | 2019-10-29 |
| 公開（公告）號： | CN110643933B | 公開（公告）日： | 2022-03-11 |
| 發明（設計）人： | 劉年富;岳峰;吳學興;王銀國 | 申請（專利權）人： | 廣東韶鋼松山股份有限公司 |
| 主分類號： | C23C8/66 | 分類號： | C23C8/66;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 王煥 |
| 地址： | 512100*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 復合 滲碳 用于 檢測 奧氏體 晶粒 方法 以及 | ||
1.一種用于檢測奧氏體晶粒度的滲碳方法，其特征在于，包括：采用復合滲碳劑對奧氏體試樣進行滲碳處理；
其中，奧氏體試樣上方復合滲碳劑的厚度為12mm；滲碳處理包括：在滲碳溫度為1030℃~1050℃下保溫120min；使滲碳層深度為1.4~1.6mm；
所述復合滲碳劑包括粒徑為1.0~3.0mm的第一滲碳劑和粒徑為5.0~8.0mm的第二滲碳劑；其中，所述第一滲碳劑的質量百分數為28%~33%。
2.根據權利要求1所述用于檢測奧氏體晶粒度的滲碳方法，其特征在于，所述第一滲碳劑的質量百分數為29%~31%。
3.根據權利要求1或2所述的用于檢測奧氏體晶粒度的滲碳方法，其特征在于，所述滲碳處理步驟之前還包括：
對試樣進行加工得到表面無脫碳層和無氧化層的所述奧氏體試樣。
4.根據權利要求1或2所述的用于檢測奧氏體晶粒度的滲碳方法，其特征在于，所述奧氏體試樣的尺寸為15~20mm*10mm*10mm。
5.一種奧氏體晶粒度的檢測方法，其特征在于，其包括：
采用權利要求1-4任一項所述的用于檢測奧氏體晶粒度的滲碳方法對奧氏體試樣進行滲碳，然后在金相顯微鏡下觀察滲碳后的所述奧氏體試樣。
6.根據權利要求5所述的奧氏體晶粒度的檢測方法，其特征在于，對奧氏體試樣進行滲碳步驟之后，在金相顯微鏡下觀察滲碳后的所述奧氏體試樣步驟之前，還包括：
切割滲碳后的所述奧氏體試樣。
7.根據權利要求6所述的奧氏體晶粒度的檢測方法，其特征在于，所述切割滲碳后的所述奧氏體試樣的尺寸為長*寬*高10mm*10mm*10mm。
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