[發明專利]一種基于MES系統的LED晶圓點測自動化系統

在審

• 申請號: 201911055851.5
• 申請日: 2019-10-31
• 公開（公告）號: CN110763979A
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: 孟超;尹華;王福成
• 申請（專利權）人: 東莞長城開發科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F9/54
• 代理公司: 44596 東莞市明諾知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 陳思遠

本發明公開了一種基于MES系統的LED晶圓點測自動化系統，通過采用系統管理的思維，LED芯片測試機與MES系統進行實時數據交互，使MES系統可以實時獲取測試設備運行狀態，從而進行統計分析和管理。

技術領域

本發明涉及LED芯片測試生產技術領域，尤其是涉及一種基于MES系統的LED晶圓點測自動化系統。

背景技術

LED晶圓是LED的核心部分，事實上，LED的波長、亮度、正向電壓等主要光電參數基本上取決于晶圓材料。LED的相關電路元件的加工與制作都是在晶圓上完成的，所以晶圓技術與設備是晶圓制造技術的關鍵所在。

傳統的LED晶圓測試流程一般分為設備工程師在LED芯片測試機建立測試程序，工藝工程師檢查確認參數是否正確，然后開始生產。生產完成后，操作員移動測試結果數據到文件服務器中工程師指定文件夾，然后觸發后臺系統進行數據處理。生產過程中設備的運行狀態由操作員紙檔記錄，或是操作員觸發MES系統進行記錄。

然而在實際生產的過程中，工藝工程師只能保證每臺測試設備首次輸入的測試參數是正確的，后續經過多次測試后，若設備的測試參數被故意或意外修，則無法保證參數在后續生產過程中的持續準確性。

目前中等規模的LED芯片測試廠設備數量通常在300臺以上，量產期間每臺設備每個程序調用前檢查程序參數耗費工程師精力過多，是一項既繁瑣又不增值的工作。測試完成后，操作員移動測試結果數據，會有遺漏或是移錯位置的風險；移動測試結果數據同樣也是一項不增值且耗費時間的工作。

因此急需對現有的MES系統進行改進。

發明內容

針對現有技術存在的不足，本發明的目的是提供一種基于MES系統的LED晶圓點測自動化系統，以解決上述問題。

為了實現上述目的，本發明所采用的技術方案是：

一種基于MES系統的LED晶圓點測自動化系統，包括以下步驟：

1)將參與到LED晶圓點測生產的LED芯片測試機與MES系統進行聯網，進行實時數據交互；

2)在MES系統中注冊LED芯片測試機程序參數的基準檔案；

3)在LED芯片測試機中建立參數輸入程序和生產調用程序，通過參數輸入程序輸入對應的測試參數，參數輸入完畢后打開生產調用程序；

4)打開生產調用程序后MES系統調用參數輸入程序輸入的測試參數，與MES系統中的基準檔案記性對比，當輸入的測試參數與基準檔案中的參數無法對應，設備報錯，生產停止，當輸入的測試參數與基準檔案中的參數配對正確，LED芯片測試機將測試參數載入，操作人員按下設備開始按鈕啟動測試生產；

5)測試生產過程中，設備持續采集LED晶圓的測試數據，并且與輸入的測試參數進行對比，當設備沒有采集到測試數據，生產發生異常，設備報錯，當設備持續有檢測數據錄入，生產過程正常進行，直至產品全部檢測完成；

6)當所有LED晶圓完成檢測，LED芯片測試機通過Port command方式發送指令給MES系統，系統自動開始采集當前晶圓測試結果數據。

進一步的技術方案中，在步驟4)中，當輸入的測試參數與基準檔案中的參數無法對應，LED芯片測試機的操作系統中彈出錯誤信息框Error Message，并且顯示有“機臺數據信息判斷錯誤”的紅色字樣。

進一步的技術方案中，步驟2)錄入至MES系統中的程序參數至少包括機臺類型、測試項目、參數最大值與最小值。

采用上述方法，本發明和現有技術相比所具有的優點是：本發明采用系統管理的思維，LED芯片測試機與MES系統進行實時數據交互，使MES系統可以實時獲取測試設備運行狀態，從而進行統計分析和管理。

附圖說明