[發明專利]一種密封標樣的無損檢測在審
| 申請號： | 201911055129.1 | 申請日： | 2019-10-31 |
| 公開（公告）號： | CN110749567A | 公開（公告）日： | 2020-02-04 |
| 發明（設計）人： | 付樂偉 | 申請（專利權）人： | 武漢信正檢測技術有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/359 | 分類號： | G01N21/359 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武漢市*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 無損檢測 標樣 密封 近紅外光譜 分析檢測 內在品質 傳統的 檢測 | ||
【權利要求書】：
1.一種密封標樣的無損檢測，其特征在于，利用近紅外光譜來分析檢測樣品的內在品質信息，所述近紅外光譜分析的檢測分為透射光譜和反射光譜，所述透射光譜包括兩種方式透射和浸透射，所述透射光譜使用近紅外光源照射待測樣品獲取該樣品的成分信息，所述浸透射是從標樣表面反射，沒有進入樣品和顆粒的內部，以測量我們所需的檢測信息。
2.根據權利要求1所述一種密封標樣的無損檢測，其特征在于，透射主要檢測標樣的組成成分。
3.根據權利要求1所述一種一種密封標樣的無損檢測，其特征在于，所述浸透射還包括漫反射，以測量我們所需的成分信息。
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