[發明專利]一種氣密性檢漏裝置及方法

有效

• 申請號: 201911054077.6
• 申請日: 2019-10-31
• 公開（公告）號: CN110702339B
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: 潘華東;朱林中;陳聰;曾彥龍;楊浩
• 申請（專利權）人: 蘇州長光華芯光電技術股份有限公司;蘇州長光華芯半導體激光創新研究院有限公司
• 主分類號: G01M3/28
• 分類號: G01M3/28
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 秦廣成

本發明提供一種氣密性檢漏裝置及方法，其中氣密性檢漏裝置，包括：第一檢測管，一端連接有第一閥門，并通過第一閥門適于與氣源連通，另一端適于與待測零部件的一端連通；第二檢測管，一端適于與待測零部件的另一端連通，另一端適于被封堵；壓力測試儀，設置在第一檢測管或第二檢測管上；第三檢測管，一端連接有第三閥門，并通過第三閥門與第二檢測管連通，另一端適于與液體源連通；第四閥門，一端與所述第一檢測管連通，另一端適于與空氣連通；本發明的氣密性檢漏裝置，通過閥門的切換，可組成氣路檢測系統和液路檢測系統，采用同一套裝置，不僅能判斷出待測部件是否漏氣，還能確定具體缺陷位置，兼具氣密性測試和缺陷位置檢測兩個功能。

技術領域

本發明涉及氣密性檢測技術領域，具體涉及一種氣密性檢漏裝置及方法。

背景技術

用于在流體回路中工作的零部件，比如各種閥、管接頭、以及由多個鏤空零件層疊形成流體通道的產品等。對其內部的流體通道都要求有一定的氣密性，以保證在流體回路中使用時不會發生滲漏。因此這些零部件在接入流體回路之前都必須進行氣密性測試。

目前使用的氣密性檢漏裝置，一般僅通過將零部件接入到氣體壓力測試回路中，通過回路中的壓力保持值判斷零部件是否存在泄漏。

然而，由于現有的氣密性檢漏裝置只能用來檢漏，不能判斷零部件氣密性不良的具體位置，因此還需要通過其他設備對氣密性不良的零部件進行二次檢測。

發明內容

因此，本發明要解決的技術問題在于克服現有技術中的氣密性檢漏裝置功能單一的缺陷，從而提供一種氣密性檢漏裝置，即能夠進行氣密性檢測，還能夠對氣密性不良的零部件進行具體的氣密性不良位置的檢測。

本發明還提供一種采用上述氣密性檢漏裝置進行氣密性檢漏的方法。

為了解決上述技術問題，本發明提供一種氣密性檢漏裝置，包括：

第一檢測管，一端連接有第一閥門，并通過第一閥門適于與氣源連通，另一端適于與待測零部件的一端連通；

第二檢測管，一端適于與待測零部件的另一端連通，另一端適于被封堵；

壓力測試儀，設置在所述第一檢測管或所述第二檢測管上；

第三檢測管，一端連接有第三閥門，并通過第三閥門與第二檢測管連通，另一端適于與液體源連通；

第四閥門，一端與所述第一檢測管連通，另一端適于與空氣連通。

作為優選方案，還包括：

第一回收管，一端連接所述第四閥門的出口，另一端適于與儲液箱連通。

作為優選方案，還包括：

第二閥門，一端與用于連通待測零部件的第二檢測管的另一端連接，另一端適于與空氣連通。

作為優選方案，還包括：

第二回收管，一端連接所述第二閥門的出口，另一端適于與儲液箱連通。

作為優選方案，所述第三檢測管上設置有調速閥。

作為優選方案，還包括：

檢測測試管，一端連接有第一三通閥，并通過所述第一三通閥連接在所述第一檢測管的用于與待測零部件連接的一端；

所述檢測測試管的另一端連接有第二三通閥，并通過所述第二三通閥連接在所述第二檢測管的用于與待測零部件連接的一端。

作為優選方案，所述壓力測試儀設置在所述第一檢測管上的所述第一閥門后。

作為優選方案，還包括：

壓力調節閥，設置在所述第一檢測管上的所述壓力測試儀前。