[發明專利]一種基于磨拋工藝的高精度光纖連接結構的制備方法有效
| 申請號: | 201911049105.5 | 申請日: | 2019-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN110727053B | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發明(設計)人: | 詹萍萍;陳春霞;丁鵬;李冰;陳俊宇;秦友鳳 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第四十四研究所 |
| 主分類號: | G02B6/25 | 分類號: | G02B6/25;G02B6/38 |
| 代理公司: | 重慶輝騰律師事務所 50215 | 代理人: | 王海軍 |
| 地址: | 400060 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 工藝 高精度 光纖 連接 結構 制備 方法 | ||
本發明涉及光纖延遲線的高精度延時控制領域,特別涉及一種基于磨拋工藝的高精度光纖延時調節方法,包括將光纖去除涂覆層后用環氧樹脂膠固定在陶瓷插芯里,對光纖的延時調節包括利用光頻域反射技術對光纖長度進行檢測,并對光纖進行定長研磨;對達到延時標準的光纖的端面進行拋光處理,并用端面檢測儀檢測端面質量;對滿足端面質量的光纖的陶瓷插針在陶瓷套筒中進行對接,并用膠水進行固定;本發明利用磨拋工藝對光纖長度進行高精度調節,改變了傳統剪切熔接方法精度低、靈活性差的情況,能夠在0.1mm精度的量級對延時光纖的長度進行調節,加工簡單靈活,并能夠按照系統的實際要求多次調節光纖延時,提高了光纖延遲系統的工藝控制水平。
技術領域
本發明涉及光纖延遲線的高精度延時控制領域,特別涉及一種基于磨拋工藝的高精度光纖連接結構的制備方法。
背景技術
光纖延時技術的原理是利用光脈沖信號在光纖中以群速度νg傳輸時,時間延遲△τ正比于光纖長度L,即:
其中,光在真空中的傳播速度c=3×108m/s;ng為光纖的纖芯折射率,常用的G.652光纖的纖芯折射率ng=1.47;由式上式可以算出光纖的延遲特性約為4.9ps/mm。因此,要實現1ps的延時精度,光纖長度的精度需要達到0.2mm。
現在常用的光纖長度控制方法是剪切熔接法,即對延遲光纖進行定長剪切后,再用光纖熔接機進行熔接。該方法主要存在三個問題:
1)由于測量方式的限制,實際操作中存在光纖的剪切長度誤差。加上光纖的熔接損耗,長度控制精度只能達到1mm,即延時精度約為4.9ps,不能滿足高精度系統的指標要求;
2)由于標準光纖切割刀的設計局限,每次剪切量需要大于9mm,對于調節長度小于9mm的情況就無法操作;
3)光纖熔接時會產生一個較大的固定連接頭(光纖接頭保護套),熔接后不能對長度進行微調,操作靈活性差。
發明內容
針對傳統剪切熔接方法精度低、靈活性差的情況,本發明提出一種基于磨拋工藝的高精度光纖連接結構的制備方法,如圖1,包括陶瓷插芯和陶瓷套筒,將光纖去除涂覆層后用環氧樹脂膠固定在陶瓷插芯里,對光纖的延時調節,如圖3,具體包括以下步驟:
S1、測量原光纖鏈路的長度,并通過矢量網絡測試儀測量發射端到接收端的光纖延時;
S2、根據實際需要確定光纖截取長度;
S3、對光纖的調節端進行加工;
S4、測量截取后光纖鏈路長度;
S5、根據需要的延時標準計算研磨長度;
S6、利用光頻域反射技術對光纖長度進行檢測,并對光纖進行定長研磨;
S7、對光纖端面進行延時測量,判斷是否達到標準,若不達標準則返回步驟,否則對光纖端面進行拋光處理,并用端面檢測儀檢測端面質量;
S8、對滿足端面質量的光纖的陶瓷插針在陶瓷套筒中進行對接,并用膠水進行固定。
進一步的,陶瓷插芯采用光纖連接器通用的PC型球面插針。
進一步的,陶瓷套筒為C型陶瓷套筒。
進一步的,對光纖的調節端進行加工包括將陶瓷插芯固定在專用夾具上,放在研磨機上研磨到要求的長度,然后拋光使端面質量合格。
進一步的,根據需要的延時標準計算研磨長度包括:
ΔL=L-L'=l1+2l2+l3;
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