[發(fā)明專利]一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911046134.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111061703A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘磊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 九次方大數(shù)據(jù)信息集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F16/215 | 分類號(hào): | G06F16/215 |
| 代理公司: | 北京久維律師事務(wù)所 11582 | 代理人: | 邢江峰 |
| 地址: | 100744 北京市房山*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提升 數(shù)據(jù)庫(kù) 數(shù)據(jù) 校驗(yàn) 質(zhì)量 測(cè)試 方法 | ||
1.一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,包括下列步驟:S1:對(duì)單獨(dú)使用紙質(zhì)數(shù)據(jù)和單獨(dú)使用電子數(shù)據(jù)可能出現(xiàn)的數(shù)據(jù)質(zhì)量問(wèn)題進(jìn)行分析匯總;S2:數(shù)據(jù)的初步校驗(yàn);S3:根據(jù)初步校驗(yàn)的結(jié)果和數(shù)據(jù)質(zhì)量分析匯總,進(jìn)行數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)的二次校驗(yàn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S1中,需要分類數(shù)據(jù)庫(kù)中數(shù)據(jù)可能存在的錯(cuò)誤類型和單獨(dú)使用紙質(zhì)數(shù)據(jù)和單獨(dú)使用電子數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)分別能夠檢出哪些錯(cuò)誤。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S1中,在數(shù)據(jù)收集和錄入環(huán)節(jié)中,由于各種系統(tǒng)因素和人為因素可能會(huì)導(dǎo)致隊(duì)列研究數(shù)據(jù)出現(xiàn)填寫(xiě)遺漏、填寫(xiě)錯(cuò)誤、錄入遺漏、錄入錯(cuò)誤。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S2中,對(duì)于某項(xiàng)數(shù)據(jù)來(lái)說(shuō),如果錄入數(shù)據(jù)不存在,而紙質(zhì)識(shí)別數(shù)據(jù)存在,則可以判定為錄入遺漏。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S2中,如果錄入數(shù)據(jù)和紙質(zhì)識(shí)別數(shù)據(jù)不一致,則可以判定為錄入錯(cuò)誤,這種情況包含了錄入數(shù)據(jù)存在而紙質(zhì)識(shí)別數(shù)據(jù)不存在的情況。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S2中,當(dāng)錄入數(shù)據(jù)和紙質(zhì)識(shí)別數(shù)據(jù)同時(shí)不存在時(shí),如果電子提取數(shù)據(jù)存在,則判定為填寫(xiě)遺漏,反之,則不做校驗(yàn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S2中,當(dāng)錄入數(shù)據(jù)和紙質(zhì)識(shí)別數(shù)據(jù)同時(shí)存在并且一致時(shí),如果電子提取數(shù)據(jù)和它們都不一致,則判定為填寫(xiě)錯(cuò)誤,反之,則不做校驗(yàn)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S3中,所述數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)的二次校驗(yàn)包括數(shù)據(jù)源初始化、狀態(tài)判斷、一致性判斷、可信度評(píng)估和設(shè)置錯(cuò)誤五個(gè)步驟。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S3中,所述提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法的運(yùn)行情況根據(jù)錄入數(shù)據(jù)、紙質(zhì)識(shí)別數(shù)據(jù)和電子提取數(shù)據(jù)是否存在來(lái)確定。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提升數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)校驗(yàn)質(zhì)量的測(cè)試方法,其特征在于,所述S3中,在所述設(shè)置錯(cuò)誤階段需要借用查準(zhǔn)率和查全率指標(biāo)來(lái)評(píng)估校驗(yàn)的結(jié)果,設(shè)置錯(cuò)誤等級(jí)。
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