[發明專利]一種PCB損耗測試方法

在審

• 申請號: 201911040069.6
• 申請日: 2019-10-29
• 公開（公告）號: CN110716128A
• 公開（公告）日: 2020-01-21
• 發明（設計）人: 謝健鴻;陳鐘俊;李艷國;王國
• 申請（專利權）人: 廣州興森快捷電路科技有限公司;深圳市興森快捷電路科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R27/26
• 代理公司: 44205 廣州嘉權專利商標事務所有限公司
• 代理人: 洪銘福

1.一種PCB損耗測試方法，其特征在于，所述方法包括：

選取長度不等的第一傳輸線和第二傳輸線，所述第一傳輸線和所述第二傳輸線為PCB板上的傳輸線；

用線纜連接網絡分析儀和電子標準件，利用所述網絡分析儀和所述電子校準件校準所述線纜，校準完畢后分離所述電子校準件；

在所述第一傳輸線的兩端連接第一SMA夾具測試模塊，在所述第二傳輸線的兩端連接第二SMA夾具測試模塊；

將SMA連接器連接到所述第一SMA夾具測試模塊，將所述線纜連接到所述SMA連接器，通過讀取所述網絡分析儀的讀數獲取所述第一傳輸線的損耗值；

將SMA連接器連接到所述第二SMA夾具測試模塊，將所述線纜連接到所述SMA連接器，通過讀取所述網絡分析儀的讀數獲取所述第二傳輸線的損耗值；

根據所述第一傳輸線的損耗值和所述第二傳輸線的損耗值計算PCB損耗。

2.根據權利要求1所述的一種PCB損耗測試方法，其特征在于，所述第一傳輸線和所述第二傳輸線為單端傳輸線。

3.根據權利要求1所述的一種PCB損耗測試方法，其特征在于，所述第一傳輸線和所述第二傳輸線為差分傳輸線。

4.根據權利要求2所述的一種PCB損耗測試方法，其特征在于，根據所述第一傳輸線的損耗值和所述第二傳輸線的損耗值計算PCB損耗的具體公式為：

SUB＝(A2-A1)/ΔL (1)

Loss1＝0.9713*SUB+0.0027 (2)

其中，A1為所述第一傳輸線的損耗值，A2為所述第二傳輸線的損耗值，A2<A1，ΔL為所述第一傳輸線和所述第二傳輸線的長度差，ΔL>0，Loss1為PCB損耗。

5.根據權利要求3所述的一種PCB損耗測試方法，其特征在于，根據所述第一傳輸線的損耗值和所述第二傳輸線的損耗值計算PCB損耗的具體公式為：

SUB＝(A2-A1)/ΔL (1)

Loss2＝SUB-0.0025f (3)

其中，A1為所述第一傳輸線的損耗值，A2為所述第二傳輸線的損耗值，A2<A1，ΔL為所述第一傳輸線和所述第二傳輸線的長度差，ΔL>0，Loss2為PCB損耗，f為與SUB對應的頻率。