[發明專利]表面輔助激光解吸電離法、質量分析方法和質量分析裝置

有效

• 申請號: 201911035872.0
• 申請日: 2016-08-26
• 公開（公告）號: CN110736784B
• 公開（公告）日: 2022-04-22
• 發明（設計）人: 內藤康秀;小谷政弘;大村孝幸
• 申請（專利權）人: 浜松光子學株式會社
• 主分類號: G01N27/64
• 分類號: G01N27/64
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 楊琦

本發明的一個方面所涉及的表面輔助激光解吸電離法包括：第一工序，其準備具有設置有從一個面(21a)貫通到另一個面(21b)的多個貫通孔(S)的基板(21)、和至少覆蓋一個面(21a)的導電層(23)的試樣支撐體(2)；第二工序，其將試樣(10)載置于試樣臺(1)，且以另一個面(21b)與試樣(10)相對的方式將試樣支撐體(2)配置于試樣(10)上；和第三工序，其通過向一個面(21a)照射激光(L)，使利用毛細管現象從另一個面(21b)側經由貫通孔(S)而移動至一個面(21a)側的試樣(10)電離。

本申請是申請日為2016年8月26日、申請號為201680002988.2、 發明名稱為表面輔助激光解吸電離法、質量分析方法和質量分析裝置 的專利申請的分案申請。

技術領域

本發明涉及表面輔助激光解吸電離法、質量分析方法和質量分析 裝置。

背景技術

目前，作為為了進行質量分析等而使生物體試樣等試樣電離的方 法，已知有基質輔助激光解吸電離法(MALDI：Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization)。MALDI是通過將吸收紫外線激光的稱為基質的 低分子量的有機化合物與試樣混合并向其照射激光而使試樣電離的方 法。根據該方法，能夠無損地使對熱不穩定的物質或高分子量物質電離(所謂軟電離)。然而，在MALDI中，發生來自基質的背景噪聲。

因此，作為不使用基質而進行電離的方法，已知有通過使用表面 具有微細的凹凸結構的基板而使試樣電離的表面輔助激光解吸電離法 (SALDI：Surface-Assisted LaserDesorption/Ionization)。例如，作為利 用SALDI的試樣的電離方法，存在使用表面具有微細的凹部的陽極氧 化多孔氧化鋁和陽極氧化多孔硅等作為試樣保持面的方法(參照下述專利文獻1和2)。在該電離方法中，向具有微細的凹部的試樣保持面 滴下分析對象的試樣，在干燥后照射激光，由此進行試樣的電離。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利第5129628號公報

專利文獻2：美國專利6288390號公報

發明內容

發明所要解決的課題

然而，在上述的電離方法中，在滴下試樣時，會發生試樣相對于 基板的位置偏移，因此，在原樣維持試樣原來的位置信息(構成試樣 的分子的二維分布)的狀態下進行試樣的電離是困難的。因此，難以 將上述電離方法用于測定在試樣區域的各位置何種分子存在多少并將 試樣分子的二維分布圖圖像化的成像質量分析等。另外，即使采用使 試樣轉印于基板的方式來代替向基板上滴下試樣，也存在轉印試樣時 發生試樣相對于基板的位置偏移、或者發生試樣的轉印不勻這樣的問 題。

因此，本發明的一個方面的目的在于：提供能夠在原樣維持試樣 的位置信息的狀態下進行試樣的電離的表面輔助激光解吸電離法、質 量分析方法和質量分析裝置。

解決課題的技術手段

本發明的一個方面所涉及的表面輔助激光解吸電離法包括：第一 工序，其準備具有設置有從一個面貫通到另一個面的多個貫通孔的基 板、和由導電性材料構成且至少覆蓋一個面的導電層的試樣支撐體； 第二工序，其將試樣載置于試樣臺，且以另一個面與試樣相對的方式， 將試樣支撐體配置于試樣上；和第三工序，其通過向一個面照射激光， 使利用毛細管現象從另一個面側經由貫通孔而移動至一個面側的試樣 電離。