[發(fā)明專利]一種用于低溫環(huán)境設(shè)備的換樣方法、系統(tǒng)及應(yīng)用

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911031895.4
• 申請(qǐng)日: 2019-10-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110864959A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-03-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 羅萬(wàn)居;白波;胡海韜;黃志強(qiáng);袁寶;童欣
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 散裂中子源科學(xué)中心;中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所
• 主分類號(hào): G01N1/36
• 分類號(hào): G01N1/36
• 代理公司: 深圳鼎合誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44281
• 代理人: 李小焦;郭燕

1.一種用于低溫環(huán)境設(shè)備的換樣方法，其特征在于：包括以下步驟，

(1)將樣品從樣品室移動(dòng)到過(guò)渡艙，然后關(guān)閉樣品室與過(guò)渡艙的門閥；

(2)向過(guò)渡艙中充入氦氣，使過(guò)渡艙保持相對(duì)于外部環(huán)境的正壓；

(3)打開(kāi)過(guò)渡艙的外部密封法蘭，進(jìn)行樣品更換，然后關(guān)閉外部密封法蘭，并對(duì)過(guò)渡艙進(jìn)行抽真空；

(4)完成步驟(3)后，對(duì)過(guò)渡艙進(jìn)行至少一個(gè)循環(huán)的以下操作：充氦氣、抽真空；

(5)最后，在過(guò)渡艙為真空狀態(tài)下，或者過(guò)渡艙內(nèi)充滿氦氣的狀態(tài)下，開(kāi)啟樣品室與過(guò)渡艙的門閥，將待測(cè)樣品移動(dòng)到樣品室內(nèi)，即完成換樣。

2.一種用于低溫環(huán)境設(shè)備的換樣系統(tǒng)，其特征在于：包括過(guò)渡艙、氦氣罐和抽真空設(shè)備；

所述過(guò)渡艙底部與低溫環(huán)境設(shè)備的樣品室連通，并采用門閥隔離，過(guò)渡艙頂部設(shè)置有可開(kāi)合的外部密封法蘭，過(guò)渡艙用于進(jìn)行樣品更換操作；

所述氦氣罐與所述過(guò)渡艙管道連通，用于給所述過(guò)渡艙充氦氣；

所述抽真空設(shè)備用于對(duì)所述過(guò)渡艙進(jìn)行抽真空。

3.一種采用權(quán)利要求1所述的換樣方法或權(quán)利要求2所述的換樣系統(tǒng)的低溫環(huán)境設(shè)備。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的低溫環(huán)境設(shè)備在同步輻射光源或散裂中子源中的應(yīng)用。

5.一種采用權(quán)利要求3所述的低溫環(huán)境設(shè)備的同步輻射光源或散裂中子源。