[發(fā)明專利]相位生成載波反正切中載波相位延遲和伴生調(diào)幅消除方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911031845.6 | 申請日： | 2019-10-28 |
| 公開（公告）號： | CN110836638A | 公開（公告）日： | 2020-02-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 胡鵬程;董祎嗣;付海金;張洪銘 | 申請（專利權(quán)）人： | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02;G01B9/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 150001 黑*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 相位 生成 載波 反正 切中 延遲 伴生 調(diào)幅 消除 方法 | ||
1.相位生成載波反正切解調(diào)中載波相位延遲和伴生調(diào)幅消除方法，該方法應(yīng)用于激光波長內(nèi)調(diào)制式光纖邁克爾遜干涉儀，所述光纖邁克爾遜干涉儀中包含：
一個(gè)激光波長可調(diào)制光源；
光路結(jié)構(gòu)，所述光路結(jié)構(gòu)中包括：分束裝置、第一反射裝置和第二反射裝置，其中，所述分束裝置用于將所述波長可調(diào)制光源發(fā)出的激光分離為參考光束和測量光束，所述第一反射裝置用于反射所述參考光束，所述第二反射裝置用于反射所述測量光束；
一個(gè)能夠檢測干涉信號的光電探測器，所述干涉信號是經(jīng)過所述第一反射裝置反射得到的參考光束與所述第二反射裝置反射得到的測量光束干涉形成的；
其特征在于，所述方法包括：
步驟一：將所述光電探測器檢測的干涉信號分別與兩路正交信號coswt和sinwt相乘，并通過低通濾波器，得到信號U1(t)和U2(t)；
步驟二：判斷滿足|U1(t)|≥Max[U1(t)]條件的t所在的區(qū)間，并將所述t所在的區(qū)間的信號U1(t)和U2(t)的部分截取出來作為函數(shù)Um1(t)和Um2(t)，將函數(shù)Um1(t)和Um2(t)進(jìn)行如下運(yùn)算：
步驟三：對函數(shù)θ(t)進(jìn)行平均值計(jì)算得到初相位延遲量θ，將所述初相位延遲量θ補(bǔ)償?shù)皆家槐额l載波cos(wt)和二倍頻載波cos(2wt)中，得到相位延遲補(bǔ)償后的一倍頻載波cos(wt+θ)和二倍頻載波cos(2wt+2θ)中，完成初相位延遲預(yù)補(bǔ)償；
步驟四：將所述光電探測器檢測信號與所述補(bǔ)償后的一倍頻載波cos(wt+θ)和二倍頻載波cos(2wt+2θ)相乘，并通過低通濾波器得到兩路信號S1(t)和S2(t)，提取所述兩路信號S1(t)和S2(t)非線性特征參數(shù)；
步驟五：利用非線性特征參數(shù)對殘余初相位延遲和伴生調(diào)幅影響進(jìn)行消除，得到S1*(t)和S2*(t)，完成誤差精細(xì)校正。
步驟六：將誤差精細(xì)校正后的S1*(t)和S2*(t)進(jìn)行反正切運(yùn)算得到相位解調(diào)值
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