[發明專利]光纖邁克爾遜干涉測振儀非線性誤差修正方法在審
| 申請號： | 201911030986.6 | 申請日： | 2019-10-28 |
| 公開（公告）號： | CN110702210A | 公開（公告）日： | 2020-01-17 |
| 發明（設計）人： | 胡鵬程;董祎嗣;冉明;初文豪 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G01H9/00 | 分類號： | G01H9/00;G01B9/02;G01B11/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 150001 黑*** | 國省代碼： | 黑龍;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 干涉信號 特征參數 預提取 非線性誤差修正 邁克爾遜干涉 測振儀 光纖 測量技術領域 精密測量領域 輸出激光波長 微小振動測量 反射鏡位置 非線性誤差 可調制光源 參考光束 測量光束 測量過程 干涉測量 光纖干涉 激光波長 技術優勢 相位變化 有效解決 振動測量 反射鏡 光程差 預掃描 波長 探測器 修正 干涉 | ||
【權利要求書】：
1.光纖邁克爾遜干涉測振儀非線性誤差修正方法，光纖邁克爾遜干涉測振儀中包含：
一個激光波長可調制的光源；
光路結構，所述光路結構中包括：分束裝置、第一反射裝置和第二反射裝置，其中，所述分束裝置用于將所述光源發出的激光分離為參考光束和測量光束，所述第一反射裝置用于反射所述參考光束，所述第二反射裝置用于反射所述測量光束；
一個能夠檢測干涉信號的光電探測器，所述干涉信號是經過所述第一反射裝置反射得到的參考光束與所述第二反射裝置反射得到的測量光束干涉形成的；
其特征在于，所述方法包括：
步驟一：打開所述光纖邁克爾遜干涉測振儀，連續改變所述光源的輸出激光波長，進而改變所述參考光束與所述測量光束之間的相位差，使得所述相位差產生至少一個周期的連續變化；
步驟二：提取所述干涉信號的特征參數；
步驟三：利用所提取到的特征參數，對光纖邁克爾遜干涉測振儀位移測量過程中的非線性誤差進行修正。
步驟四：對得到的位移—時間圖進行分析，獲得振動目標的振動幅度和頻率。
2.根據權利要求1所述的光纖邁克爾遜干涉測振儀非線性誤差修正方法，其特征在于：所述分束裝置可以是：光纖耦合器、非偏振分光鏡。
3.根據權利要求1所述的光纖邁克爾遜干涉測振儀非線性誤差修正方法，其特征在于：所述第一反射裝置和第二反射裝置可以是：平面鏡、角錐棱鏡、法拉第旋轉鏡。
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