[發明專利]溶液檢測裝置

在審

• 申請號: 201911029985.X
• 申請日: 2019-10-28
• 公開（公告）號: CN110806232A
• 公開（公告）日: 2020-02-18
• 發明（設計）人: 姜磊;洪振旻;王浩宇;張宇宏
• 申請（專利權）人: 中廣核核電運營有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02;G01D5/353;G01D5/36
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 汪潔麗

1.一種溶液檢測裝置，其特征在于，包括：光發生裝置、傳感裝置、基體和信號處理裝置，所述光發生裝置連接所述傳感裝置，所述傳感裝置連接所述信號處理裝置，所述傳感裝置固定設置于所述基體，所述傳感裝置和所述基體均固定設置在待測溶液中；

所述傳感裝置包括平行設置的第一光纖和第二光纖，所述第一光纖和所述第二光纖均固定設置于所述基體，所述基體表面形成有通槽，所述第一光纖和所述第二光纖均固定設置于所述通槽內；所述第一光纖、所述第二光纖和所述基體均固定設置在待測溶液中，所述光發生裝置連接所述第一光纖，所述第一光纖和所述第二光纖均連接所述信號處理裝置，所述第一光纖刻有傾斜光纖光柵，所述光發生裝置用于向所述第一光纖發射光脈沖，所述第一光纖用于根據所述待測溶液的溫度產生反射光至所述信號處理裝置，并用于根據所述待測溶液的折射率產生耦合光至所述第二光纖，所述第二光纖發送光信號至所述信號處理裝置，所述信號處理裝置用于對所述第一光纖發射的反射光和所述第二光纖發送的光信號進行分析得到所述待測溶液的溫度和折射率。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第二光纖為D型光纖。

3.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述基體為正方體基體。

4.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號處理裝置包括光電探測器和數據采集裝置，所述第一光纖和所述第二光纖均連接所述光電探測器，所述光電探測器連接所述數據采集裝置。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述光電探測器包括第一光電探測器和第二光電探測器，所述第一光電探測器連接所述第一光纖，所述第二光電探測器連接所述第二光纖，所述第一光電探測器和所述第二光電探測器均連接所述數據采集裝置。

6.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述信號處理裝置還包括放大電路，所述放大電路一端連接所述光電探測器，另一端連接所述數據采集裝置。

7.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，還包括光纖耦合器，所述光發生裝置通過所述光纖耦合器連接所述第一光纖，所述第一光纖通過所述光纖耦合器連接所述第一光電探測器。

8.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，還包括單模光纖，所述單模光纖與所述第二光纖熔接，所述第二光纖通過所述單模光纖連接所述第二光電探測器。

9.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第一光纖和所述第二光纖接觸設置。

10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述第一光纖和所述第二光纖固定設置。