[發明專利]PTC元件全自動電性能綜合檢驗設備

在審

• 申請號: 201911029628.3
• 申請日: 2019-10-28
• 公開（公告）號: CN110632432A
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發明（設計）人: 徐偉
• 申請（專利權）人: 上海帕克熱敏陶瓷有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01K15/00
• 代理公司: 31315 上海驍象知識產權代理有限公司
• 代理人: 趙峰

一種PTC元件全自動電性能綜合檢驗設備，包括操作臺及由位于操作臺四周的擋板及自動升降門形成的相對封閉的箱體，操作臺設于箱體內，操作臺上設有可一次夾持多片PTC元件的PTC元件治具，PTC元件治具由箱體內位于操作臺下方的數據檢測及處理器控制，在PTC元件治具上方橫梁上設有由數據檢測及處理器控制的溫度檢測模塊。針對現有PTC元件性能測試存在的問題，本發明可以用一臺機器實現幾乎所有電性能的測試，并且可以自動化完成，并按標準判斷產品是否合格，并輸出標準的檢測報告。

技術領域

本發明涉及電學領域，尤其涉及PTC元件電性能測試技術，特別是一種PTC元件全自動電性能綜合檢驗設備。

背景技術

PTC元件具有恒溫發熱特性，無明火、安全可靠、使用簡單。作為加熱元件，PTC元件在暖風機、空調、新能源汽車加熱系統上已經獲得大量應用。PTC元件是關鍵元件，一般應用在高壓場合，是一個風險等級很高的產品，所以必須對PTC元件的性能做全面的檢測，才能確保產品在生產過程中符合質量要求，在使用過程中不出現功能問題或安全問題。

大多數生產企業，在生產過程中，會對產品的外觀進行全檢。對沖擊電流(或常溫電阻)、電極耐流性能、耐電壓等關鍵電性能指標通過自動化設備進行全檢，以確保產品的性能可靠性。對于PTC元件的其它電性能，在產品出廠前，品管部會對PTC元件的所有的電性能進行檢測，如表面溫度、擊穿耐壓(伏安特性)、升溫速度(時間-電流特性)等會進行一定數量的抽檢，確保產品質量。

對于專業的生產廠家，有配置各種檢測設備。這些檢測設備包括常溫電阻測試儀、沖擊電流測試儀、平衡電流測試儀、耐電壓測試儀(含電極耐流能力、擊穿耐電壓測試)、表面溫度測試儀、時間-電流測試儀(檢測升溫速度)、伏安特性測試儀(檢測擊穿耐壓)等大量設備。這些專業的設備需要花費很大的一次性資金投入，每年還要進行一次校驗。對于PTC元件的使用單位、研發機構，不可能配備這些完善的檢測設備，無法對PTC元件的性能進行檢測。一旦PTC元件出現質量問題，在后期生產過程中發現，那么損失會很大。

同時，生產制造單位需要配備專業的檢驗員，每天花費大量的時間對PTC元件的電性能進行檢測。而且由于各使用單位的設備和測試方法的不統一，標準也不統一，測試數據誤差很大(如沖擊電流和表面溫度)，造成很多誤判和糾紛。

發明內容

本發明要解決的技術問題是現有技術中PTC元件電性能綜合檢驗難度較大的問題。

為了解決上述技術問題，本發明的技術方案是提供一種PTC元件全自動電性能綜合檢驗設備，包括操作臺及由位于操作臺四周的擋板及自動升降門形成的相對封閉的箱體，操作臺設于箱體內，其特征在于，操作臺上設有可一次夾持N片PTC元件的PTC元件治具，N為大于或者等于1的整數，PTC元件治具的動作及PCT元件的檢測由箱體內位于操作臺下方的數據檢測及處理器控制，在PTC元件治具上方橫梁上設有由數據檢測及處理器控制的溫度檢測模塊，溫度檢測模塊將檢測到的PTC元件治具上夾持的PTC元件的表面溫度回傳給數據檢測及處理器，其中：

PTC元件治具包括：PTC元件卡槽，人工將M片PTC元件放入PTC元件卡槽內，M為小于或者等于N的整數，M片PTC元件排列成一排；

卡槽升降機構，在數據檢測及處理器的控制下用于帶動PTC元件卡槽上升、下降，PTC元件卡槽上升到位后，PTC元件可放入PTC元件卡槽內，PTC元件卡槽下降到位后，PTC元件與PTC元件卡槽相分離；

模組自動滑臺，通過滑臺模組設于操作臺上，由滑臺模組驅動模組自動滑臺移動至設定位置，卡槽升降機構通過連接件固定在模組自動滑臺的預設位置，從而將放入PTC元件卡槽的PTC元件導入PTC元件治具的固定位置；