[發明專利]一種圖像邊緣檢測系統及方法

在審

• 申請號: 201911023102.4
• 申請日: 2019-10-25
• 公開（公告）號: CN110853066A
• 公開（公告）日: 2020-02-28
• 發明（設計）人: 馮天華;潘丹平;張衛;亞歷山大.波特波夫
• 申請（專利權）人: 暨南大學
• 主分類號: G06T7/13
• 分類號: G06T7/13;G06T5/10;G06T1/00
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 何文聰

1.一種圖像邊緣檢測系統，其特征在于，包括：

光調制模塊，用于采用光線對待檢測圖像進行處理后，輸出加載有圖像信息的載波；

超表面模塊，用于接收從預設角度發射過來的載波，使載波穿過超表面模塊；

檢測模塊，用于接收穿過超表面模塊的載波，對接收到的載波進行處理后，輸出圖像邊緣信息。

2.根據權利要求1所述的一種圖像邊緣檢測系統，其特征在于，所述超表面模塊包括多個呈周期性排布的微納結構重復單元。

3.根據權利要求2所述的一種圖像邊緣檢測系統，其特征在于，所述微納結構重復單元呈柱狀。

4.根據權利要求2所述的一種圖像邊緣檢測系統，其特征在于，所述微納結構重復單元由高折射率介質制成。

5.根據權利要求1所述的一種圖像邊緣檢測系統，其特征在于，所述預設角度為30°-46°。

6.根據權利要求1所述的一種圖像邊緣檢測系統，其特征在于，所述光調制模塊采用空間光調制器。

7.根據權利要求1所述的一種圖像邊緣檢測系統，其特征在于，所述檢測模塊包括光束輪廓儀或幅度檢測器。

8.一種圖像邊緣檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

采用光線對待檢測圖像進行處理后，獲得加載有圖像信息的載波；

將載波按照預設角度發射至超表面模塊，使載波穿過超表面模塊；

獲取穿過超表面模塊的載波，并對獲得的載波進行處理后，輸出圖像邊緣信息。

9.根據權利要求8所述的一種圖像邊緣檢測方法，其特征在于，所述預設角度為30°-46°。

10.根據權利要求8所述的一種圖像邊緣檢測方法，其特征在于，所述超表面模塊包括多個呈周期性排布的微納結構重復單元。