[發明專利]一種多渦卷混沌切換系統的設計方法及模擬電路有效
| 申請號: | 201911020370.0 | 申請日: | 2019-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN110765722B | 公開(公告)日: | 2023-06-20 |
| 發明(設計)人: | 黃霞;石擎宇;王震;樊英杰;李玉霞 | 申請(專利權)人: | 山東科技大學 |
| 主分類號: | G06F30/367 | 分類號: | G06F30/367;G06F30/3308 |
| 代理公司: | 青島智地領創專利代理有限公司 37252 | 代理人: | 陳海濱 |
| 地址: | 266590 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多渦卷 混沌 切換 系統 設計 方法 模擬 電路 | ||
1.一種多渦卷混沌切換系統的模擬電路,其特征在于,采用多渦卷混沌切換系統的設計方法設計的多渦卷混沌切換系統;
所述多渦卷混沌切換系統的設計方法,
基于含有平移參數的混沌系統a,進行時間放縮和尺寸變換,平移參數變為d1后,得到混沌系統a的狀態方程:
含有平移參數的混沌系統a為式(1),
其中,x為x相狀態變量,y為y相狀態變量,z為z相狀態變量,分別為三個狀態變量的導數;
時間放縮和尺寸變換后,平移參數變為d1,混沌系統a的狀態方程變換為式(2),
含參數的混沌系統b為式(3),
基于含有平移參數的混沌系統b,進行時間放縮和尺寸變換,平移參數變為d2后,得到混沌系統b的狀態方程:
時間放縮和尺寸變換后,平移參數變為d2,混沌系統b的狀態方程變換為式(4),
根據狀態方程(1)與狀態方程(3),調節z相狀態變量的切換閾值,構造切換系統的系統參數,生成一個基于參數切換機制的多渦卷混沌切換系統c,其狀態方程為(5),
其中,是切換系統(5)的系統參數:
為切換系統(5)的平移函數:
對于平移函數(7),系統參數(6)和切換系統(5)的狀態方程進行時間放縮和尺度變換,基于參數切換機制的多渦卷混沌切換系統c的狀態方程為式(8),
其中,A(z)、B(z)、C(z)是切換系統(8)的系統參數:
G(h)為切換系統(8)的平移函數:
所述多渦卷混沌切換系統,包括混沌系統a對應的電路、混沌系統b對應的電路和多渦卷混沌切換系統c對應的電路;具體包括第一平移電壓比較電路、第一模擬多路復用器、第一放大器、乘法器、X相積分電路、Y相積分電路、Z相積分電路、第二平移電壓比較電路、第二模擬多路復用器、第二放大器、參數切換電壓比較電路、第三模擬多路復用器、第四模擬多路復用器和第五模擬多路復用器;
X相輸出的電壓信號輸入給第一平移電壓比較電路,經比較運算后,向第一模擬多路復用器輸入四路高低電平信號,實現第一模擬多路復用器對平移變量d1的選擇輸出;
輸出的平移變量與X相的電壓信號通過第一放大器組合實現平移函數f(h),獲得的平移函數與X、Y、Z三相電壓經過乘法器和電阻的初步組合,再通過X相積分電路、Y相積分電路、Z相積分電路的積分運算,實現混沌系統a;
X相輸出的電壓信號輸入給第二平移電壓比較電路,經比較運算后,向第二模擬多路復用器輸入四路高低電平信號,實現第二模擬多路復用器對平移變量d2的選擇輸出;
輸出的平移變量與X相的電壓信號通過第二放大器組合實現平移函數g(h),獲得的平移函數與X、Y、Z三相電壓經過乘法器和電阻的初步組合,再通過X相積分電路、Y相積分電路、Z相積分電路的積分運算,實現混沌系統b;
將混沌系統a的三相積分電路環節的輸入電壓記為X1、Y1和Z1;混沌系統b的三相積分電路環節的輸入電壓記為X2、Y2和Z2;Z相輸出的電壓信號輸入給參數切換電壓比較電路,經比較運算后,向第三模擬多路復用器、第四模擬多路復用器、第五模擬多路復用器輸入高低電平,第三模擬多路復用器、第四模擬多路復用器、第五模擬多路復用器獲得比較輸出的高低電平后,控制X1與X2,Y1與Y2,Z1與Z2切換輸出;
記X1與X2選擇輸出的電壓信號為XD,Y1與Y2選擇輸出的電壓信號為YD,Z1與Z2選擇輸出的電壓信號為ZD,XD接入X相積分電路的輸入端,輸出X相電壓信號;YD接入Y相積分電路的輸入端,輸出Y相電壓信號;ZD接入Z相積分電路的輸入端,輸出Z相電壓信號,從而,得到基于參數切換機制的多渦卷混沌切換系統的模擬電路。
2.如權利要求1所述的一種多渦卷混沌切換系統的模擬電路,其特征在于,所述第一平移電壓比較電路包含四個雙限電壓比較電路D1a、D1b、D1c、D1d,四個雙限電壓比較電路共用一個輸入端,接X相輸出的電壓信號,雙限電壓比較電路D1a的參考電壓源為V1和V2,D1b的參考電壓源為V3和V4、D1c的參考電壓源V5和V6,D1d的參考電壓源為V7和V8,分別對應平移函數f(h)中的閾值。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于山東科技大學,未經山東科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911020370.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





