[發(fā)明專利]一種Open Block測試裝置、方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911018608.6 | 申請日: | 2019-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN111028881B | 公開(公告)日: | 2021-08-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李棟 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 濟南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205 | 代理人: | 劉雪萍 |
| 地址: | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 open block 測試 裝置 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開一種Open Block測試裝置、方法及系統(tǒng),包括測試主機和至少一個測試板卡;測試板卡上設(shè)置有測試控制器、Nand Flash芯片、溫控部件;所述Nand Flash芯片、溫控部件分別與測試控制器電連接;測試控制器與測試主機通信。通過測試主機控制測試控制器對Nand Flash芯片進行讀寫,寫入時,對Block的部分page進行讀寫,使Block處于Open狀態(tài),即Open Block。間隔一定時間再進行讀取,計算Block的每個page的BER,最后分析出BER隨時間的變化。提供Block在不同溫度Open狀態(tài)下BER隨時間的變化趨勢及規(guī)律,為Nand Flash控制器的實現(xiàn)及優(yōu)化提供參考。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及Nand Flash芯片測試領(lǐng)域,具體涉及Nand Flash芯片的Open Block測試裝置、方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
Nand Flash具有容量大,讀寫速度快,價格相對低廉等優(yōu)點,在一些嵌入式產(chǎn)品、U盤、特別是SSD中得到大量應(yīng)用。但是Nand Flash由于自身原理、制作工藝等存在一些固有的特性,如位反轉(zhuǎn)、讀干擾、寫干擾等,所以寫入Nand Flash的數(shù)據(jù),再讀出來時會和寫入的數(shù)據(jù)有一定差異,即BER(Bi t Error Rate,誤碼率)。BER在一定范圍之內(nèi)是可以接受的,實際使用中Nand控制程序會有一套完整的糾錯校驗機制,但是如果BER太高,超出了糾錯模塊的糾錯能力,則保存的數(shù)據(jù)很有可能會失效,造成數(shù)據(jù)丟失。另外,在實際使用中一些使用場景會加速Nand一些特性的表現(xiàn),造成BER升高,比如open block,block在open狀態(tài)下在很短的時間內(nèi)可能BER就會升到很高,以至于校驗失敗,所以為了數(shù)據(jù)的安全,很有必要對open block狀態(tài)下BER的變化情況及規(guī)律進行測試。
目前,在Nand Flash應(yīng)用中,對open block的測試比較少;為了避免open block的出現(xiàn),大部分廠商會一次性寫滿一個block,當數(shù)據(jù)不足時會填充dummy data,但是這種使用不是很靈活,有時候會造成存儲空間的浪費。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題,本發(fā)明提供一種Open Block測試裝置、方法及系統(tǒng),提供Block在Open狀態(tài)下BER隨時間的變化趨勢及規(guī)律。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:一種Open Block測試裝置,包括測試主機和至少一個測試板卡;
測試板卡上設(shè)置有測試控制器、Nand Flash芯片、溫控部件;所述Nand Flash芯片、溫控部件分別與測試控制器電連接;
測試控制器與測試主機通信。
進一步地,所述溫控部件包括溫度控制器、測溫探頭、加熱片、風扇和外殼,所述測溫探頭、加熱片、風扇設(shè)置在外殼內(nèi),外殼扣合在Nand Flash芯片處;
測溫探頭、加熱片、風扇分別與溫度控制器電連接;溫度控制器與測試控制器電連接。
進一步地,Nand Flash芯片通過插接座插接在測試板卡上。
進一步地,測試板卡上還設(shè)置有網(wǎng)口,測試控制器通過網(wǎng)線與測試主機通信。
本發(fā)明的技術(shù)方案還包括一種Open Block測試方法,包括以下步驟:
S0,測試主機控制測試控制器通過溫控部件調(diào)節(jié)Nand Flash芯片所處環(huán)境溫度,并等待溫度穩(wěn)定;
S1,測試主機控制測試控制器對Nand Flash芯片的測試Block進行部分寫入數(shù)據(jù);
S2,測試主機定時控制測試控制器對測試Block進行讀取數(shù)據(jù);
S3,測試控制器根據(jù)讀取數(shù)據(jù)計算測試Block每個page的BER數(shù)據(jù),并將所計算的BER數(shù)據(jù)和對應(yīng)Block信息返回測試主機;
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