[發明專利]觸摸顯示屏的精準度的測試方法、裝置、設備以及介質

有效

• 申請號: 201911016937.7
• 申請日: 2019-10-24
• 公開（公告）號: CN111025039B
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發明（設計）人: 黃永霖
• 申請（專利權）人: 廣州視源電子科技股份有限公司;廣州視睿電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 廣州駿思知識產權代理有限公司 44425
• 代理人: 潘桂生

1.一種觸摸顯示屏的精準度的測試方法，應用于觸摸顯示屏，所述觸摸顯示屏包括觸控層和顯示層，其特征在于，該方法包括如下步驟：

接收在所述觸控層上的觸摸操作；

獲得所述觸摸操作對應的觸摸位置在所述觸控層的位置坐標；

計算獲得所述位置坐標在所述顯示層的觸摸響應位置；

在所述顯示層上，以所述觸摸響應位置的中心像素點為圓心，繪制并顯示多個圓形，以根據所述觸摸位置與所述多個圓形之間的位置關系，獲得所述觸摸位置與所述觸摸響應位置之間的偏移量；其中，所述多個圓形的半徑以預設步長遞增，且所述多個圓形中的最小半徑的長度根據預設的單位長度確定；

其中，所述觸摸操作通過觸摸工具觸摸所述觸控層的任一位置觸發，且通過所述觸摸工具停留在觸摸位置上，并根據所述顯示層上繪制的多個圓形，獲得所述觸摸位置和觸摸響應位置之間的偏移量；所述觸摸工具與所述觸控層接觸的一端的尺寸較小，以使所述觸摸位置在所述觸控層上為一個物理接觸點；或者，

所述觸摸操作通過繪圖工具觸摸所述觸控層的任一位置觸發，并通過所述繪圖工具在所述觸摸位置上繪出觸摸印記，以根據所述觸摸印記與所述多個圓形之間的位置關系，獲得所述觸摸位置與所述觸摸響應位置之間的偏移量，所述繪圖工具在所述觸控層上繪出的印記為小圓點，以使所述觸摸印記指示的所述觸摸位置為所述觸控層上一個物理接觸點。

2.根據權利要求1所述的觸摸顯示屏的精準度的測試方法，其特征在于，所述多個圓形中的最小半徑的長度根據預設的單位長度確定的步驟，包括：

獲取預設的單位長度；

獲取所述顯示層的像素密度；其中，所述顯示層的像素密度為每英寸長度對應的像素點數；

根據所述預設的單位長度與英寸長度的換算關系，獲得所述預設的單位長度在所述顯示層中對應的像素點數；

在所述顯示屏上，以所述像素點數排列的長度作為所述多個圓形中的最小半徑的長度。

3.根據權利要求2所述的觸摸顯示屏的精準度的測試方法，其特征在于，在所述顯示屏上顯示所述觸摸響應位置，且在所述顯示屏上的所述多個圓形上分別對應繪制單位長度刻度。

4.根據權利要求1所述的觸摸顯示屏的精準度的測試方法，其特征在于，計算獲得所述位置坐標在所述顯示層的觸摸響應位置的步驟，包括：

將所述觸摸操作對應的觸摸位置在所述觸控層的位置坐標，按照所述觸控層與所述顯示層的坐標映射關系進行映射轉換，獲得所述位置坐標在所述顯示層的觸摸響應位置。

5.一種觸摸顯示屏的精準度的測試裝置，應用于觸摸顯示屏，所述觸摸顯示屏包括觸控層和顯示層，其特征在于，所述裝置包括：

觸摸操作接收模塊，用于接收在所述觸控層上的觸摸操作；

位置坐標獲取模塊，用于獲得所述觸摸操作對應的觸摸位置在所述觸控層的位置坐標；

觸摸響應位置計算模塊，用于計算獲得所述位置坐標在所述顯示層的觸摸響應位置；

圖形繪制模塊，用于在所述顯示層上，以所述觸摸響應位置的中心像素點為圓心，繪制并顯示多個圓形，以根據所述觸摸位置與所述多個圓形之間的位置關系，獲得所述觸摸位置與所述觸摸響應位置之間的偏移量；其中，所述多個圓形的半徑以預設步長遞增，且所述多個圓形中的最小半徑的長度根據預設的單位長度確定；

其中，所述觸摸操作通過觸摸工具觸摸所述觸控層的任一位置觸發，且通過所述觸摸工具停留在觸摸位置上，并根據所述顯示層上繪制的多個圓形，獲得所述觸摸位置和觸摸響應位置之間的偏移量；所述觸摸工具與所述觸控層接觸的一端的尺寸較小，以使所述觸摸位置在所述觸控層上為一個物理接觸點；或者，

所述觸摸操作通過繪圖工具觸摸所述觸控層的任一位置觸發，并通過所述繪圖工具在所述觸摸位置上繪出觸摸印記，以根據所述觸摸印記與所述多個圓形之間的位置關系，獲得所述觸摸位置與所述觸摸響應位置之間的偏移量，所述繪圖工具在所述觸控層上繪出的印記為小圓點，以使所述觸摸印記指示的所述觸摸位置為所述觸控層上一個物理接觸點。