[發(fā)明專利]一種基于FPGA的CPU IO中斷性能測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911015215.X | 申請日: | 2019-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN110781045B | 公開(公告)日: | 2023-07-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王培培;滕達;王果山;楊林鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 超越科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 濟南信達專利事務(wù)所有限公司 37100 | 代理人: | 姜明 |
| 地址: | 250100 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 fpga cpu io 中斷 性能 測試 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種基于FPGA的CPU?IO中斷性能測試裝置,所述裝置包括串口命令解析單元,中斷源控制單元,中斷源發(fā)生單元以及中斷性能計算單元,其中:串口命令解析單元負責(zé)解析CPU?IO中斷性能測試指令;中斷源控制單元用于根據(jù)寄存器數(shù)值,控制中斷源的發(fā)生次數(shù)與脈沖長度、寬度;中斷源發(fā)生單元用于產(chǎn)生中斷脈沖;中斷性能計算單元用于接收CPU?IO中斷響應(yīng),并計算當(dāng)前響應(yīng)性能。本發(fā)明測試裝置電路設(shè)計精巧,技術(shù)先進,使用方便簡單,應(yīng)用前景廣闊,實現(xiàn)了對IO中斷性能的高精度測試。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電路設(shè)計技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于FPGA的CPU?IO中斷性能測試裝置。
背景技術(shù)
CPU與I/O設(shè)備通過硬件接口或控制器相連接,這些接口或控制器都有數(shù)量不等的端口,這些端口有統(tǒng)一的地址編碼,CPU通過這些端口使用輸入輸出指令I(lǐng)N、OUT與外設(shè)進行數(shù)據(jù)交換。
計算機在執(zhí)行程序過程中,遇到需要處理的事件時,暫停當(dāng)前正在運行的程序,轉(zhuǎn)去執(zhí)行有關(guān)的服務(wù)程序,處理完后自動返回原程序,這個過程稱為中斷(interrupt)。中斷在現(xiàn)代計算機系統(tǒng)中是一種非常重要的技術(shù),輸入輸出設(shè)備和主機交換數(shù)據(jù)、分時操作、實時系統(tǒng)、多處理機系統(tǒng)、計算機網(wǎng)絡(luò)和分布式計算機系統(tǒng)都要用到這種技術(shù)。
近年來隨著集成電路工藝的發(fā)展,CPU的工藝尺寸逐年下降。隨著工藝尺寸的下降,帶來了性能的巨大提升。而CPU?IO中斷性能為CPU一項重要的數(shù)據(jù)指標,其測試的精度對后續(xù)基于該CPU的設(shè)計有著重要的參考作用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:針對CPU?IO中斷性能測試這一問題,利用FPGA設(shè)計了CPU?IO中斷性能測試裝置,從而實現(xiàn)了對IO中斷性能的高精度測試。
針對上述問題,本發(fā)明提供一種基于FPGA的CPU?IO中斷性能測試裝置。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:
一種基于FPGA的CPU?IO中斷性能測試裝置,所述裝置包括串口命令解析單元,中斷源控制單元,中斷源發(fā)生單元以及中斷性能計算單元,其中:
串口命令解析單元負責(zé)解析CPU?IO中斷性能測試指令;
中斷源控制單元用于根據(jù)寄存器數(shù)值,控制中斷源的發(fā)生次數(shù)與脈沖長度、寬度;
中斷源發(fā)生單元用于產(chǎn)生中斷脈沖;
中斷性能計算單元用于接收CPU?IO中斷響應(yīng),并計算當(dāng)前響應(yīng)性能。
所述測試裝置由FPGA電路構(gòu)成,對外采FPGA作為中斷發(fā)生源,在FPGA內(nèi)部捕獲被測CPU的中斷響應(yīng),并計算極限中斷響應(yīng)時間。
所述測試裝置內(nèi)部單元工作過程如下:
串口命令解析單元通過串口接收到開始命令后,解析出指令通知中斷源控制單元;
中斷源控制單元接到指令后,進行初始化,設(shè)置中斷個數(shù)和中斷長度初始值,并通知中斷源發(fā)生單元開始發(fā)送中斷脈沖;
中斷脈沖發(fā)送后,中斷性能計算單元接收CPU響應(yīng)的中斷脈沖數(shù)量與響應(yīng)時間,并與發(fā)送的數(shù)量進行比較。
所述中斷性能計算單元接收的中斷脈沖數(shù)量與發(fā)送的如果不一致,則CPU響應(yīng)時間過長,將中斷脈沖寬度擴大,繼續(xù)測試。
所述中斷性能計算單元接收的中斷脈沖數(shù)量與發(fā)送的如果一致,則記錄CPU?IO中斷響應(yīng)時間與相應(yīng)的脈沖寬度,并減小中斷脈沖寬度,再次進行測試,直至中斷脈沖寬度精度達到測試要求的精度,停止測試,并記錄下最小的中斷脈沖寬度與中斷響應(yīng)時間,通過串口返回。
中斷脈沖寬度擴大或中斷脈沖寬度減小采用二分法方式。
所屬測試裝置的具體工作流程內(nèi)容包括如下:
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