[發(fā)明專利]一種器件撥件包裝控制方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911007905.0
• 申請日: 2019-10-22
• 公開（公告）號: CN111215351B
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 白文;徐虎;楊彥偉
• 申請（專利權(quán)）人: 芯思杰技術(shù)（深圳）股份有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38;B07C5/02;H01L21/67;H01L21/677
• 代理公司: 深圳智匯遠見知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44481
• 代理人: 沈園園

1.一種器件撥件包裝控制方法，其特征在于，所述控制方法包括下述步驟：

獲取撥裝任務(wù)和各個測試載體（7）對應(yīng)的測試結(jié)果；

根據(jù)所述撥裝任務(wù)確定撥裝策略；

根據(jù)所述撥裝策略和各個測試結(jié)果生成并執(zhí)行撥裝命令；

其中，

所述獲取撥裝任務(wù)和各個測試載體（7）對應(yīng)的測試結(jié)果包括：

依次獲取各個測試載體（7）的識別信息，所述識別信息包括型號、工單號、測試載體編號和測試時間；

根據(jù)任一個測試載體（7）的識別信息調(diào)取預(yù)先存儲的撥裝任務(wù)；

根據(jù)各個測試載體（7）的識別信息調(diào)取預(yù)先存儲的各個測試載體（7）對應(yīng)的測試結(jié)果；

所述撥裝任務(wù)包括工單號內(nèi)產(chǎn)品的數(shù)量和合格率；

所述測試結(jié)果包括測試載體（7）上的每個TO器件的坐標信息和質(zhì)量信息；

所述測試載體（7）的識別信息顯示在測試載體（7）的待掃描區(qū)內(nèi)；

多個所述測試載體（7）被依次傳送，每個所述測試載體（7）傳送過程中均停留于掃描位內(nèi)，待掃描完畢后繼續(xù)傳送并停留至撥裝位內(nèi)，待撥裝完畢后繼續(xù)傳送直至傳送完成；

所述根據(jù)所述撥裝任務(wù)確定撥裝策略包括：

當(dāng)數(shù)量低于單撥數(shù)量閾值且合格率高于單撥合格率閾值時，確定單個撥件的策略；否則，確定批量撥件加補料的策略。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述根據(jù)所述撥裝策略和各個測試結(jié)果生成并執(zhí)行撥裝命令的同時，還包括：

依次傳送多個包裝載體（8），每個所述包裝載體（8）傳送過程中均停留于置入位內(nèi)，待置滿TO器件和置入蓋體后繼續(xù)傳送，直至傳送完畢。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的控制方法，其特征在于，所述根據(jù)所述撥裝策略和各個測試結(jié)果生成并執(zhí)行的撥裝命令包括：

當(dāng)確定的撥件包裝策略為單個撥件的策略時，生成并執(zhí)行的撥裝命令為：

依次對停留在撥裝位內(nèi)的各個測試載體（7）上的各個TO器件按其坐標信息進行單獨抓取；

在抓取每個TO器件后均根據(jù)其質(zhì)量信息確定置于包裝載體（8）內(nèi)或不良區(qū)內(nèi)；

依次將各個TO器件置于包裝載體（8）內(nèi)或不良區(qū)內(nèi)，每個測試載體（7）上的TO器件被抓取完后，該測試載體（7）為撥裝完畢。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的控制方法，其特征在于，所述根據(jù)所述撥件包裝策略生成并執(zhí)行撥裝命令還包括：

當(dāng)確定的撥件包裝策略為批量撥件加補料的策略時，生成并執(zhí)行的撥裝命令為：

依次對停留在撥裝位內(nèi)的各個測試載體（7）上的各組TO器件按其坐標信息進行批量抓取；

在抓取每組TO器件后均根據(jù)其內(nèi)各個TO器件的質(zhì)量信息分別確定每個TO器件置于包裝載體（8）內(nèi)或置于不良區(qū)內(nèi)；

依次將各組TO器件內(nèi)的合格品置于包裝載體（8）內(nèi)，將各組TO器件內(nèi)的不良品置于不良區(qū)內(nèi)，每個測試載體（7）上的TO器件被抓取完后，該測試載體（7）為撥裝完畢；

根據(jù)各組TO器件內(nèi)的不良品的坐標信息確定包裝載體（8）內(nèi)的空缺位坐標信息，根據(jù)空缺位坐標信息依次對補料載體（14）上的TO器件進行單獨吸取，并在吸取后置于空缺位內(nèi)，直至補滿所有空缺位。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的控制方法，其特征在于，所述根據(jù)所述撥裝策略和各個測試結(jié)果生成并執(zhí)行撥裝命令的同時，還包括：

停留補料載體（14）于裝配位，依次對停留在撥裝位內(nèi)的各個測試載體（7）上的各組TO器件按其坐標信息進行批量抓取；

在抓取每組TO器件后均根據(jù)其內(nèi)各個TO器件的質(zhì)量信息分別確定每個TO器件置于補料載體（14）內(nèi)或置于不良區(qū)內(nèi)；

依次將各組TO器件內(nèi)的合格品置于補料載體（14）內(nèi)，將各組TO器件內(nèi)的不良品置于不良區(qū)內(nèi)，每個測試載體（7）上的TO器件被抓取完后，該測試載體（7）為撥裝完畢；

補料載體（14）內(nèi)無與批量抓取的TO器件對應(yīng)的連續(xù)空缺位時，傳送補料載體（14）于吸取位，待其內(nèi)的TO器件被全部吸取后，傳送補料載體（14）回到裝配位。