[發(fā)明專利]超表面稀疏孔徑透鏡有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911000828.6 | 申請日: | 2019-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN110632684B | 公開(公告)日: | 2021-06-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 胡敬佩;劉鐵誠;曾愛軍;朱玲琳;黃惠杰 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號: | G02B1/00 | 分類號: | G02B1/00;G02B3/00 |
| 代理公司: | 上海恒慧知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 張寧展 |
| 地址: | 201800 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 表面 稀疏 孔徑 透鏡 | ||
超表面稀疏孔徑透鏡包括多個按照一定序列排布的子透鏡,每個子透鏡包括多個微結(jié)構(gòu)和支撐該微結(jié)構(gòu)的基底,所有子透鏡共同構(gòu)成超表面稀疏孔徑透鏡。所述的超表面稀疏孔徑透鏡所對應(yīng)的相位信息可以由入射光波長、透鏡焦距確定。利用稀疏孔徑技術(shù),本發(fā)明可以通過子透鏡陣列系統(tǒng)獲取與大孔徑光學(xué)系統(tǒng)相同的空間分辨率,從而降低大孔徑超透鏡的制備難度和加工成本。本發(fā)明在顯微成像系統(tǒng)和內(nèi)窺成像系統(tǒng)的小型化和集成化等方面具有很高的應(yīng)用價值。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及超表面稀疏孔徑透鏡。
背景技術(shù)
超表面透鏡是一種基于亞波長微結(jié)構(gòu)組成的超薄二維陣列平面,是一種二維衍射光學(xué)元件,因其具備對電磁波振幅、相位、偏振態(tài)的有效調(diào)控,具有平面集成、消色差、超越衍射極限等潛力,使其成為當(dāng)前衍射光學(xué)和納米光子學(xué)領(lǐng)域的研究熱點(diǎn),然而超表面透鏡仍然存在孔徑較小,無法實(shí)現(xiàn)大孔徑裝備制造等問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提出超表面的稀疏孔徑透鏡,該裝置解決了現(xiàn)有超表面透鏡無法實(shí)現(xiàn)大孔徑裝備制造的問題,降低大孔徑超透鏡的制備難度,減輕載荷體積和重量,同時,子透鏡陣列可以獲取與大孔徑相同的空間分辨率,在提高超表面光學(xué)透鏡系統(tǒng)分辨率以及提高超表面透鏡的制備效率等方面有很高的應(yīng)用價值。為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)解決方案如下:
超表面的稀疏孔徑透鏡,其特征在于,由多個結(jié)構(gòu)相同的超表面子透鏡按照一定空間位置排列在基底上而成,每個超表面子透鏡由多個結(jié)構(gòu)相同的微結(jié)構(gòu)像素單元排列而成。
所述的微結(jié)構(gòu)像素單元由長方體以及包圍該長方體的長方體環(huán)狀結(jié)構(gòu)構(gòu)成,該長方體環(huán)狀結(jié)構(gòu)為刻蝕的微結(jié)構(gòu),長方體為保留的微結(jié)構(gòu)。
所述的超表面的稀疏孔徑透鏡,其特征在于,所述的一定空間位置包括Annulus、Double、Golay3、Ring6、Golay6或Tri-arm7。
所述的超表面的稀疏孔徑透鏡,其特征在于,所述的微結(jié)構(gòu)像素單元為能夠調(diào)控相位變化的金屬超表面微結(jié)構(gòu)或介質(zhì)超表面微結(jié)構(gòu)。
所述的超表面的稀疏孔徑透鏡,其特征在于,所述的基底由二氧化硅、氧化鋁或其他透光自支撐介質(zhì)制備而成。
所述的超表面的稀疏孔徑透鏡的制備方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:
1)設(shè)計一定空間位置的子透鏡陣列;
2)計算子透鏡的相位分布,并生成相位圖譜,公式如下:
其中為微結(jié)構(gòu)像素單元長方體中心所對應(yīng)的相位,x為微結(jié)構(gòu)像素單元長方體中心橫向坐標(biāo),y為x為微結(jié)構(gòu)像素單元長方體中心縱向坐標(biāo),m為任意整數(shù),f為超表面子透鏡所對應(yīng)的焦距,λ為入射光波長;
3)對不同結(jié)構(gòu)參數(shù)微結(jié)構(gòu)像素單元進(jìn)行仿真獲得所述不同參數(shù)微結(jié)構(gòu)單元的相位調(diào)控曲線和透過率曲線,對所述微結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化,使得微結(jié)構(gòu)的能夠達(dá)到0-2π的相位調(diào)控能力,同時保證透過率具有一致性;
4)根據(jù)需求對所生成的相位圖譜進(jìn)行等比例離散化,并選取對應(yīng)的微結(jié)構(gòu)像素單元尺寸,生成微結(jié)構(gòu)尺寸圖譜文件;
5)利用電子束曝光或激光直寫曝光和刻蝕工藝實(shí)現(xiàn)微結(jié)構(gòu)的曝光和轉(zhuǎn)移,得到所需的超表面稀疏孔徑透鏡。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的技術(shù)效果如下:
本發(fā)明可以通過子透鏡陣列系統(tǒng)獲取與大孔徑光學(xué)系統(tǒng)相同的空間分辨率,從而降低大孔徑超透鏡的制備難度和加工成本。本發(fā)明在顯微成像系統(tǒng)和內(nèi)窺成像系統(tǒng)的小型化和集成化等方面具有很高的應(yīng)用價值。
附圖說明
圖1為本發(fā)明超表面稀疏孔徑透鏡結(jié)構(gòu)三維示意圖;
圖2為本發(fā)明微結(jié)構(gòu)像素單元示意圖;
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