[發(fā)明專利]一種結(jié)構(gòu)形變檢測傳感器及檢測系統(tǒng)與檢測方法

在審

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• 申請日: 2019-10-18
• 公開（公告）號: CN110672045A
• 公開（公告）日: 2020-01-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 胡明哲;李立;霍玲玲
• 申請（專利權(quán)）人: 貴州民族大學(xué)
• 主分類號: G01B15/06
• 分類號: G01B15/06
• 代理公司: 11212 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 翟磊

本發(fā)明涉及一種結(jié)構(gòu)形變檢測傳感器及檢測系統(tǒng)與檢測方法，屬于結(jié)構(gòu)形變檢測領(lǐng)域。本結(jié)構(gòu)形變檢測傳感器，包括：第一固定座，所述第一固定座上設(shè)有第一介質(zhì)基板，所述第一介質(zhì)基板的一端設(shè)有第一微帶電路；第二固定座，所述第二固定座與所述第一固定座平行設(shè)置，所述第二固定座上設(shè)有第二介質(zhì)基板，所述第二介質(zhì)基板的一端設(shè)有第二微帶電路，所述第二微帶電路朝向所述第一微帶電路，所述第一微帶電路與所述第二微帶電路之間留有互感耦合縫隙。本結(jié)構(gòu)形變檢測傳感器的效果是能夠簡單方便快速的檢測結(jié)構(gòu)微小形變，檢測準(zhǔn)確度高，檢測成本低，消耗的能源低，同時利于進(jìn)行檢測操作。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于結(jié)構(gòu)形變檢測領(lǐng)域，具體涉及一種結(jié)構(gòu)形變檢測傳感器及檢測系統(tǒng)與檢測方法。

背景技術(shù)

結(jié)構(gòu)形變是指結(jié)構(gòu)變形或結(jié)構(gòu)松動后，結(jié)構(gòu)內(nèi)部造成相對位移。一般而言，隨著相對位移的發(fā)生，結(jié)構(gòu)內(nèi)部會不斷積累應(yīng)力造成最終受損。因此及時監(jiān)控結(jié)構(gòu)的形變信息對預(yù)防結(jié)構(gòu)失效至關(guān)重要，對于確保其結(jié)構(gòu)的可靠性和安全性至關(guān)重要。

目前國內(nèi)已經(jīng)報道了用激光位移傳感器等技術(shù)來監(jiān)測結(jié)構(gòu)的微小位移。但這種監(jiān)測方法線路復(fù)雜、成本較高。與此同時，建筑等的發(fā)展引申出的各種結(jié)構(gòu)變化豐富，給結(jié)構(gòu)形變監(jiān)測提出了高難度復(fù)雜的要求。因此迫切需要一種簡單、低成本、高準(zhǔn)確度的傳感器對結(jié)構(gòu)形變進(jìn)行檢測。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明為了解決上述技術(shù)問題提供一種結(jié)構(gòu)形變檢測傳感器及檢測系統(tǒng)與檢測方法，能夠簡單方便快速的檢測結(jié)構(gòu)微小形變，檢測準(zhǔn)確度高，檢測成本低，消耗的能源低，同時利于進(jìn)行檢測操作。

本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下：一種結(jié)構(gòu)形變檢測傳感器，包括：第一固定座，所述第一固定座上設(shè)有第一介質(zhì)基板，所述第一介質(zhì)基板的一端設(shè)有第一微帶電路；第二固定座，所述第二固定座與所述第一固定座平行設(shè)置，所述第二固定座上設(shè)有第二介質(zhì)基板，所述第二介質(zhì)基板的一端設(shè)有第二微帶電路，所述第二微帶電路朝向所述第一微帶電路，所述第一微帶電路與所述第二微帶電路之間留有互感耦合縫隙。

本結(jié)構(gòu)形變檢測傳感器的有益效果是：通過將第一固定座和第二固定座分別安裝在易形變位置和不易形變位置，使得第一微帶電路和第二微帶電路之間留有互感耦合縫隙，當(dāng)發(fā)生結(jié)構(gòu)形變時，第一固定座或第二固定座跟隨移動，從而互感耦合縫隙產(chǎn)生變化，從而通過檢測互感耦合縫隙的變化來檢測出結(jié)構(gòu)形變，通過此檢測傳感器進(jìn)行檢測，檢測精確度高，不易受到其他檢測干擾，同時檢測成本低，本檢測傳感器結(jié)構(gòu)簡單，易于制造，制造的成本同樣低，能夠提高對結(jié)構(gòu)形變檢測的效率。

在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本發(fā)明還可以做如下改進(jìn)。

進(jìn)一步，所述第一固定座內(nèi)設(shè)有第一內(nèi)腔，所述第一固定座的一側(cè)邊設(shè)有第一開口，所述第一開口與所述第一內(nèi)腔連通，所述第一介質(zhì)基板設(shè)在所述第一內(nèi)腔中，所述第一介質(zhì)基板設(shè)有所述第一微帶電路的一端從所述第一開口伸出所述第一固定座。

采用上述進(jìn)一步方案的有益效果是：通過第一固定座能夠?qū)Φ谝唤橘|(zhì)基板形成保護(hù)，使得檢測傳感器使用壽命更長。

進(jìn)一步，所述第二固定座內(nèi)設(shè)有第二內(nèi)腔，所述第二固定座的一側(cè)邊設(shè)有第二開口，所述第二開口與所述第二內(nèi)腔連通，所述第二介質(zhì)基板設(shè)在所述第二內(nèi)腔中，所述第二介質(zhì)基板設(shè)有所述第二微帶電路的一端從所述第二開口伸出所述第二固定座。

采用上述進(jìn)一步方案的有益效果是：通過第二固定座能夠?qū)Φ诙橘|(zhì)基板形成保護(hù)，檢測傳感器的使用壽命更長。

進(jìn)一步，所述第一微帶電路包括多個第一矩形凹槽，多個所述第一矩形凹槽成陣列排布，每個所述第一矩形凹槽中均設(shè)有相對設(shè)置的兩個第一金屬條，兩個所述第一金屬條彎折設(shè)在對應(yīng)所述第一矩形凹槽內(nèi)，兩個所述第一金屬條與對應(yīng)所述第一矩形凹槽的內(nèi)壁固定連接。

采用上述進(jìn)一步方案的有益效果是：通過第一金屬條彎折形成人工等離激元結(jié)構(gòu)，能夠集中形成電場，檢測精度更高。