[發明專利]用于高通量數據獨立分析的方法和裝置

有效

• 申請號: 201910987526.6
• 申請日: 2019-10-16
• 公開（公告）號: CN111077211B
• 公開（公告）日: 2022-11-29
• 發明（設計）人: V·V·考弗土恩
• 申請（專利權）人: 薩默費尼根有限公司
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62;H01J49/40;H01J49/42
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳潔;周全

1.一種分析樣品的方法，所述方法包括：

基于質荷比將來自所述樣品的前體離子分離成窄質量范圍組；

使來自每個組的離子碎裂以產生碎片離子組；

使用長瞬態時間質量分析儀對來自每個碎片離子組的碎片離子進行質量分析；

其中所述分離和所述碎裂在第一定時區域中發生并且所述質量分析在第二定時區域中發生，所述第一定時區域的定時要求與所述第二定時區域的定時要求通過將碎片離子積聚在所述第一定時區域中的第一存儲單元陣列中并且在定時循環對齊時將所述碎片離子轉移到所述第二定時區域中的第二存儲單元陣列而解耦，并且高瞬態質量分析儀的循環時間大于窄質量范圍掃描時間的循環時間的五倍，并且其中所述分離和所述碎裂具有高占空比，并且所述質量分析具有高占空比。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述質量分析儀的所述循環時間大于所述窄質量范圍掃描時間的所述循環時間的十倍。

3.根據權利要求1所述的方法，所述質量分析儀的所述循環時間小于所述窄質量范圍掃描時間的所述循環時間的15倍。

4.根據權利要求1所述的方法，所述窄質量范圍掃描時間的所述循環時間介于50微秒與500微秒之間。

5.根據權利要求1所述的方法，所述窄質量范圍掃描時間的所述循環時間介于100微秒與400微秒之間。

6.根據權利要求1所述的方法，所述窄質量范圍掃描時間的所述循環時間介于200微秒與300微秒之間。

7.根據權利要求1所述的方法，所述質量分析儀的所述循環時間介于1毫秒與10毫秒之間。

8.根據權利要求1所述的方法，所述質量分析儀的所述循環時間介于3毫秒與7毫秒之間。

9.根據權利要求1所述的方法，所述質量分析儀的所述循環時間介于4毫秒與6毫秒之間。

10.一種質譜儀，其包括：

離子源，所述離子源被配置成由樣品產生前體離子；

線性離子阱，所述線性離子阱被配置成基于質荷比將所述前體離子分離成多個窄質量范圍；

碎裂裝置，所述碎裂裝置被配置成使窄質量范圍內的離子碎裂以產生碎片離子組；

第一存儲單元陣列，所述第一存儲單元陣列包含第一存儲單元和第二存儲單元，所述第一存儲單元被配置成積聚來自所述碎裂裝置的來自第一窄質量范圍的碎片離子，所述第二存儲單元被配置成積聚來自所述碎裂裝置的來自第二窄質量范圍的碎片離子，所述第一存儲單元陣列被配置成使來自所述第一窄質量范圍的碎片離子與來自所述第二窄質量范圍的碎片離子隔離；

第二存儲單元陣列，所述第二存儲單元陣列包含第三存儲單元和第四存儲單元，所述第三存儲單元被配置成接收來自所述第一存儲單元的離子，并且所述第四存儲單元被配置成接收來自所述第二存儲單元的離子；以及

質量分析儀，所述質量分析儀被配置成接收來自所述第三存儲單元的離子并且分析來自所述第一窄質量范圍的碎片離子的質荷比，并且單獨地接收來自所述第四存儲單元的離子并且分析來自所述第二窄質量范圍的碎片離子的質荷比，

其中在所述質量分析儀接收并分析來自所述第三存儲單元和所述第四存儲單元的離子期間，所述線性離子阱、所述碎裂裝置和所述第一存儲單元陣列被配置成執行多輪分離、碎裂和積聚，使得所述第一存儲單元積聚來自所述第一窄質量范圍的碎片離子的多個離子包并且所述第二存儲單元積聚來自所述第二窄質量范圍的碎片離子的多個離子包。

11.根據權利要求10所述的質譜儀，其中所述質量分析儀是長瞬態時間質量分析儀。

12.根據權利要求11所述的質譜儀，其中所述長瞬態時間質量分析儀是多重反射飛行時間質量分析儀。