[發明專利]物件表面可能缺陷的影像檢測掃描方法及其系統

在審

• 申請號: 201910987171.0
• 申請日: 2019-10-17
• 公開（公告）號: CN112683788A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 蔡昆佑;楊博宇
• 申請（專利權）人: 神訊電腦（昆山）有限公司;神基科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/956
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種物件表面可能缺陷的影像檢測掃描方法及其系統，所述物件表面可能缺陷的影像檢測掃描方法包含：以感光元件根據一測試光線擷取測試影像、以處理器根據測試影像判斷感光元件的一設定參數是否正常、當設定參數異常時，產生警示信號、當設定參數正常時，執行檢測程序、在檢測程序中依序位移所述物件沿其表面的延伸方向劃分的若干個表面區塊中之一至檢測位置，以光源組件在檢測程序中提供一檢測光線照射檢測位置、以及以感光元件在檢測程序中根據檢測光線擷取依序位于檢測位置上的各表面區塊的檢測影像。借此，利用人工神經網絡系統根據所擷取到的物件的物件影像進行深度學習而建立用以辨識并分類物件的不同表面型態的預測模型。

【技術領域】

本案是關于一種物件表面可能缺陷的影像檢測掃描方法及其影像檢測掃描系統。

【背景技術】

產品的缺陷檢測是工業生產程序中極為重要的一環，具有缺陷的產品并無法販售，或者，若具有缺陷的中間產品販售給其他廠商進行加工，將造成最終的產品無法工作。現有的缺陷檢測方法的其中之一是人工以肉眼觀察或以雙手觸摸待檢測的產品，以判定產品是否具有缺陷，例如凹坑、劃痕、色差、缺損等，然而，以人工方式檢測產品是否具有缺陷的效率較差，且極容易發生誤判的情形，如此將造成產品的良率無法控管的問題。

【發明內容】

本案提供一種物件表面可能缺陷的影像檢測掃描系統，包含驅動組件、光源組件、感光元件及處理器。驅動組件承載所述物件，物件的表面沿一延伸方向劃分為若干個表面區塊，且驅動組件依序位移若干個表面區塊的其中之一至一檢測位置。光源組件面向檢測位置配置，提供一檢測光線以照射檢測位置，且相對于位于檢測位置的表面區塊的一正向法線，檢測光線的一光入射角小于或等于90度。感光元件面向檢測位置配置，擷取依序位于檢測位置上的表面區塊的檢測影像，且在擷取表面區塊的檢測影像前根據一測試光線擷取一測試影像，其中感光元件的一感光軸平行于正向法線或介于正向法線與延伸方向之間。處理器耦接感光元件，根據測試影像判斷感光元件的一設定參數是否正常，當設定參數異常且感光元件已執行相應設定參數的一調校作業時，處理器產生一警示信號。

本案提供一種物件表面可能缺陷的影像檢測掃描方法，包含以一感光元件根據一測試光線擷取一測試影像、以一處理器根據測試影像判斷感光元件的一設定參數是否正常、當設定參數異常時，產生一警示信號、當設定參數正常時，執行一檢測程序、以一驅動組件在檢測程序中依序位移所述物件沿其表面的一延伸方向劃分的若干個表面區塊中之一至一檢測位置，以面向檢測位置的一光源組件在檢測程序中提供一檢測光線，其中相對位于檢測位置的表面區塊的一正向法線，檢測光線以小于或等于90度的一光入射角照射檢測位置、以感光元件在檢測程序中面向檢測位置，其中感光元件的一感光軸平行于正向法線或介于正向法線與延伸方向之間、以及以感光元件在檢測程序中根據檢測光線擷取依序位于檢測位置上的各表面區塊的一檢測影像。

【附圖說明】

圖1為根據本案的物件表面可能缺陷的影像檢測掃描系統的一實施例的示意圖。

圖2為圖1的物件表面可能缺陷的影像檢測掃描系統的一實施例的功能方框圖。

圖3為圖1的物件、光源組件及感光元件之間于光學上的相對位置的一實施例的示意圖。

圖4為圖1的物件、光源組件及感光元件之間于光學上的相對位置的另一實施例的示意圖。

圖5為圖1的物件、光源組件及感光元件之間于光學上的相對位置的另一實施例的示意圖。

圖6為根據本案的物件表面可能缺陷的影像檢測掃描方法的一實施例的流程圖。

圖7為相應于圖1的物件的一預設表面缺陷的一實施例的示意圖。

圖8為根據本案的物件表面可能缺陷的影像檢測掃描系統的另一實施例的示意圖。

圖9為圖7的物件、光源組件及感光元件之間于光學上的相對位置的一實施例的示意圖。