[發(fā)明專利]智能封裝后修復(fù)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910984123.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111063385A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | A·J·威爾遜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 美光科技公司 |
| 主分類號(hào): | G11C29/00 | 分類號(hào): | G11C29/00 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 王龍 |
| 地址: | 美國(guó)愛(ài)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 智能 封裝 修復(fù) | ||
本發(fā)明涉及智能封裝后修復(fù)PPR。提供用于將存儲(chǔ)器單元的缺陷行的行地址存儲(chǔ)到一組非易失性存儲(chǔ)元件(例如,熔絲或反熔絲)的技術(shù)。在存儲(chǔ)器裝置已經(jīng)封裝之后,存儲(chǔ)器單元的一或多個(gè)行可變?yōu)橛腥毕莸?。為了修?fù)(例如,替換)所述行,可進(jìn)行PPR操作以便用所述存儲(chǔ)器陣列的冗余行替換所述缺陷行。為了用冗余行替換所述缺陷行,所述缺陷行的地址可以存儲(chǔ)(例如,映射)到與冗余行相關(guān)聯(lián)的可用的一組非易失性存儲(chǔ)元件?;谒鲆唤M非易失性存儲(chǔ)元件所述缺陷行的所述地址,后續(xù)存取操作可以利用所述冗余行而不是所述缺陷行。
本專利申請(qǐng)要求威爾遜在2018年10月16日提交的標(biāo)題為“智能封裝后修復(fù)(INTELLIGENT POST-PACKAGING REPAIR)”的第16/161,932號(hào)美國(guó)專利申請(qǐng)的優(yōu)先 權(quán),所述申請(qǐng)轉(zhuǎn)讓給本受讓人且明確地以全文引用的方式并入本文中。
技術(shù)領(lǐng)域
技術(shù)領(lǐng)域涉及智能封裝后修復(fù)。
背景技術(shù)
下文大體上涉及包含至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置的系統(tǒng),且更具體來(lái)說(shuō),涉及智能封裝后 修復(fù)(PPR)。
存儲(chǔ)器裝置廣泛用于將信息存儲(chǔ)在例如計(jì)算機(jī)、無(wú)線通信裝置、相機(jī)、數(shù)字顯示器等各種電子裝置中。通過(guò)編程存儲(chǔ)器裝置的不同狀態(tài)來(lái)存儲(chǔ)信息。例如,二進(jìn)制裝置最 常存儲(chǔ)通常由邏輯1或邏輯0表示的兩種狀態(tài)中的一個(gè)。在其它裝置中,可存儲(chǔ)多于兩 個(gè)狀態(tài)。為了存取所存儲(chǔ)的信息,裝置的組件可讀取或感測(cè)存儲(chǔ)器裝置中的至少一個(gè)所 存儲(chǔ)狀態(tài)。為了存儲(chǔ)信息,裝置的組件可寫(xiě)入或編程存儲(chǔ)器裝置中的狀態(tài)。
存在各種類型的存儲(chǔ)器裝置,包含磁性硬盤、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)、只讀存儲(chǔ)器(ROM)、動(dòng)態(tài)RAM(DRAM)、同步動(dòng)態(tài)RAM(SDRAM)、鐵電RAM(FeRAM)、磁性 RAM(MRAM)、電阻式RAM(RRAM)、快閃存儲(chǔ)器、相變存儲(chǔ)器(PCM)等。存儲(chǔ)器裝置 可為易失性或非易失性的。非易失性存儲(chǔ)器(例如FeRAM)可維持其所存儲(chǔ)的邏輯狀態(tài)很 長(zhǎng)一段時(shí)間,即使無(wú)外部電源存在也是這樣。易失性存儲(chǔ)器裝置(例如,DRAM)除非被 外部電源定期刷新,否則可能隨時(shí)間推移而丟失其存儲(chǔ)的狀態(tài)。
一般來(lái)說(shuō),改進(jìn)存儲(chǔ)器裝置可包含增加存儲(chǔ)器單元密度、增加讀取/寫(xiě)入速度、增加 可靠性、增加數(shù)據(jù)保持、降低功率消耗或降低制造成本以及其它度量。例如,一些存儲(chǔ)器裝置(例如,存儲(chǔ)器裝置的一些存儲(chǔ)器單元)可能會(huì)在封裝之后產(chǎn)生缺陷,所以可能需 要用于封裝后修復(fù)(PPR)的改進(jìn)型系統(tǒng)和技術(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
描述一種方法。方法可包含接收對(duì)應(yīng)于存儲(chǔ)器裝置的存儲(chǔ)器陣列內(nèi)的缺陷行的行地 址。方法可包含至少部分地基于接收到行地址而確定存儲(chǔ)器裝置的多個(gè)非易失性存儲(chǔ)元 件中的非易失性存儲(chǔ)元件可用于存儲(chǔ)所接收行地址,其中多個(gè)非易失性存儲(chǔ)元件中的每 一非易失性存儲(chǔ)元件支持存儲(chǔ)存儲(chǔ)器陣列的行地址。方法可包含至少部分地基于確定非 易失性存儲(chǔ)元件可用于存儲(chǔ)所接收行地址而在非易失性存儲(chǔ)元件中存儲(chǔ)所接收行地址。
描述一種設(shè)備。設(shè)備可包含可用性組件,所述可用性組件與存儲(chǔ)器裝置的存儲(chǔ)器陣 列耦合且配置成至少部分地基于接收到存儲(chǔ)器陣列的缺陷行的行地址而確定存儲(chǔ)器裝置的多個(gè)非易失性存儲(chǔ)元件中的非易失性存儲(chǔ)元件的可用性。設(shè)備可包含存儲(chǔ)組件,所 述存儲(chǔ)組件配置成至少部分地基于非易失性存儲(chǔ)元件的可用性而將行地址映射到非易 失性存儲(chǔ)元件。
描述一種設(shè)備。設(shè)備可包含包括多個(gè)存儲(chǔ)器單元的存儲(chǔ)器陣列。設(shè)備可包含與存儲(chǔ) 器陣列耦合的多個(gè)非易失性存儲(chǔ)元件。設(shè)備可包含與存儲(chǔ)器陣列和多個(gè)非易失性存儲(chǔ)元 件耦合的存儲(chǔ)器控制器。存儲(chǔ)器控制器可用來(lái)使設(shè)備接收對(duì)應(yīng)于缺陷行的行地址。存儲(chǔ)器控制器可用來(lái)使設(shè)備至少部分地基于接收到行地址而確定存儲(chǔ)器裝置的多個(gè)非易失 性存儲(chǔ)元件中的非易失性存儲(chǔ)元件可用于存儲(chǔ)所接收行地址。存儲(chǔ)器控制器可用來(lái)使設(shè) 備至少部分地基于確定非易失性存儲(chǔ)元件可用而在非易失性存儲(chǔ)元件中存儲(chǔ)所接收行 地址。
附圖說(shuō)明
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G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備





