[發明專利]電流檢測器用的磁芯及其制造方法在審
| 申請號: | 201910982189.1 | 申請日: | 2019-10-16 |
| 公開(公告)號: | CN111063522A | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發明(設計)人: | 永野愛;北井敦嘉 | 申請(專利權)人: | SHT有限公司 |
| 主分類號: | H01F27/24 | 分類號: | H01F27/24;H01F27/25;H01F27/26;H01F38/00;H01F41/02 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;閆小龍 |
| 地址: | 日本大阪*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電流 檢測 器用 及其 制造 方法 | ||
本發明涉及電流檢測器用的磁芯及其制造方法。本發明提供能夠在維持磁芯片的配對的狀態下形成多個間隙的電流檢測器用的磁芯及其制造方法。本發明的電流檢測器用的磁芯(10)具備:將環狀的磁芯主體(12)沿徑向在2處切斷而形成的一對磁芯片(20、23),所述磁芯片被配置為切斷面(21、24)彼此以保持第1間隙(26)和第2間隙(28)的方式相對;使用樹脂將周面連續地包覆后的第1部分鑄模(30),所述周面包括以夾持第1間隙的方式相對的磁芯片的切斷面和第1間隙;以及使用樹脂將以夾持第2間隙的方式相對的磁芯片的切斷面的周面部分地包覆后的第2部分鑄模(40),所述第2部分鑄模包括將以夾持第2間隙的方式相對的磁芯片的切斷面的一個的周面包覆的第2?1鑄模構件(41)、和將另一個磁芯片的切斷面的周面包覆的第2?2鑄模構件(42)。
技術領域
本發明涉及電流檢測器用的磁芯及其制造方法,更詳細地涉及在磁芯主體中形成有多個間隙的磁芯及其制造方法。
背景技術
已知有在由磁性材料構成的環狀的磁芯主體中形成間隙來制作磁芯并在磁芯的內周側配置母線并且在間隙中配置磁檢測元件而成的電流檢測器(例如參照專利文獻1)。
現有技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開2007-88019號公報。
發明要解決的課題
為了提高磁特性此外調整磁飽和特性,也提出了在磁芯主體中形成有多個間隙的磁芯。例如,在磁芯主體中形成2個間隙,在一個間隙中配置磁檢測元件,另一個間隙起到用于使磁飽和特性穩定的作用。
在間隙為1個的情況下,即使切斷環狀的磁芯主體來形成間隙,磁芯也是保持大致C字狀形狀的1個構件的狀態,但是,當形成2個間隙時,磁芯主體成為2個磁芯片,變得分散。
特別是在作為磁芯主體而采用了將帶狀鋼板卷繞后的所謂卷磁芯的情況下,在磁芯主體中在鋼板的卷開始和卷結束的位置產生偏差。此外,特別是在卷磁芯的情況下,當鋼板的卷強度不同時,即使為相同的卷數,也存在磁芯主體的截面積不同的情況。此外,關于卷磁芯,在將鋼板卷繞后施行退火,但是,存在卷繞、退火、漆浸漬等工序中的殘留應力,在切斷磁芯主體時,由于卷繞后的帶狀鋼板的恢復力,也存在磁芯片拉開的情況。像這樣,存在以下可能性:當根據截面積或拉開不同的磁芯片制作磁芯時,在間隙中的磁芯片彼此的相對面積產生偏差,招致磁導率的降低,不能得到期望的磁特性或磁飽和特性,對直線性或示出與作為其指標的直線區域中的理想B-H的誤差的錯誤率造成影響。此外,在間隙的形成位置不是磁芯主體的中央的情況下,通過間隙切斷而得到的磁芯片為左右非對稱。因此,正確地組合2個磁芯片的配對是重要的。
因此,要求避免在切斷前后與根據其他的磁芯主體制作的磁芯片的配對并且組合使用從相同的磁芯主體切斷出的磁芯片彼此。然而,在切斷磁芯主體來制造磁芯片并且對這些磁芯片進行向電流檢測器的組入的期間,在配對的狀態下維持從相同的磁芯主體切斷出的磁芯片是困難且繁雜的。
發明內容
本發明的目的在于提供能夠在維持磁芯片的配對的狀態下形成多個間隙的電流檢測器用的磁芯及其制造方法。
用于解決課題的方案
本發明的電流檢測器用的磁芯是,一種電流檢測器用的磁芯,具備:
將環狀的磁芯主體沿徑向在2處切斷而形成的一對磁芯片,所述磁芯片被配置為切斷面彼此以保持第1間隙和第2間隙的方式相對;
使用樹脂將周面連續地包覆后的第1部分鑄模,所述周面包括以夾持所述第1間隙的方式相對的所述磁芯片的所述切斷面和所述第1間隙;以及
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