[發(fā)明專利]一種集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)的處理方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910978067.5 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110750951A | 公開(公告)日: | 2020-02-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 向彥瑾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 四川豪威爾信息科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/392 | 分類號(hào): | G06F30/392;G06F30/33;G06F16/24 |
| 代理公司: | 11411 北京聯(lián)瑞聯(lián)豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 黃冠華 |
| 地址: | 621000 四川省綿陽(yáng)市*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成電路布局 測(cè)試機(jī)臺(tái) 集成電路 集成電路芯片 數(shù)據(jù)庫(kù) 數(shù)據(jù)處理技術(shù) 待測(cè)試芯片 測(cè)試 布局?jǐn)?shù)據(jù) 測(cè)試探針 處理效率 性能測(cè)試 重新排列 校驗(yàn) 匹配 存儲(chǔ) 發(fā)送 保證 節(jié)約 | ||
1.一種集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)的處理方法,其特征在于:具體包括以下步驟:
S1、挑選與待測(cè)試芯片型號(hào)相匹配的測(cè)試機(jī)臺(tái),然后再將N個(gè)需要進(jìn)行測(cè)試的集成電路芯片放置在測(cè)試機(jī)臺(tái)上,通過測(cè)試機(jī)臺(tái)上的測(cè)試探針對(duì)集成電路芯片進(jìn)行性能測(cè)試,測(cè)試完成后,生成N個(gè)測(cè)試結(jié)果,然后將這些測(cè)試結(jié)果發(fā)送至數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)進(jìn)行存儲(chǔ),在數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)對(duì)芯片進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目、極限單位以及變化量極限值逐個(gè)進(jìn)行標(biāo)記,同時(shí)對(duì)每個(gè)集成電路芯片的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行標(biāo)記,生成文件名;
S2、當(dāng)需要對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)的芯片測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行布局整理時(shí),通過關(guān)鍵詞檢索對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)的相關(guān)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行提取,將數(shù)據(jù)提取到操作頁(yè)面上,按照數(shù)據(jù)的大小、測(cè)試項(xiàng)目、極限單位以及變化量極限值進(jìn)行重新排列組合,使得得到規(guī)整性數(shù)據(jù);
S3、根據(jù)S2中將重新布局后的數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯操作,得到集成布局?jǐn)?shù)據(jù),并且對(duì)該集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)處理,保證數(shù)據(jù)的完整性,最后將布局完成后的集成電路數(shù)據(jù)重新發(fā)送至數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi),并做好備注處理,用以區(qū)分未布局以及已布局的集成電路數(shù)據(jù);
S4、根據(jù)S3對(duì)已布局后的集成電路數(shù)據(jù)進(jìn)行備份處理,以防丟失,同時(shí)設(shè)置加密單元,相關(guān)工作人員輸入正確的管理賬號(hào)和密碼方可對(duì)集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行修改處理,這樣就完成了整個(gè)集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)處理的相關(guān)工作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)的處理方法,其特征在于:所述S1中的測(cè)試機(jī)臺(tái)為探針機(jī)臺(tái),機(jī)臺(tái)上的測(cè)試探針是電測(cè)試的接觸媒介。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)的處理方法,其特征在于:所述S3中的數(shù)據(jù)校驗(yàn)是用一種指定的算法對(duì)原始數(shù)據(jù)計(jì)算出的一個(gè)校驗(yàn)值,接收方用同樣的算法計(jì)算一次校驗(yàn)值,如果兩次計(jì)算得到的檢驗(yàn)值相同,則說明數(shù)據(jù)是完整的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)的處理方法,其特征在于:所述S1中的測(cè)試項(xiàng)目包括DC測(cè)試和AC測(cè)試。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種集成電路布局?jǐn)?shù)據(jù)的處理方法,其特征在于:所述S2中的數(shù)據(jù)庫(kù)是將數(shù)據(jù)以一定方式儲(chǔ)存在一起、能與多個(gè)用戶共享以及與應(yīng)用程序彼此獨(dú)立數(shù)據(jù)集合的一種存儲(chǔ)電子文件的處所。
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