[發(fā)明專利]基于高光譜的熒光粉發(fā)光特性透射式測(cè)試裝置和方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910975428.0
• 申請(qǐng)日: 2019-10-14
• 公開（公告）號(hào): CN110658169B
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭自泉;劉必靖;楊宸;林苡;呂毅軍;高玉琳;陳忠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廈門大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N21/64
• 分類號(hào): G01N21/64;G01J3/443
• 代理公司: 廈門南強(qiáng)之路專利事務(wù)所(普通合伙) 35200
• 代理人: 張素斌

1.基于高光譜的熒光粉發(fā)光特性透射式測(cè)試方法，其特征在于包括以下步驟：

1)將LED激發(fā)光源放置在控溫模塊上，設(shè)置控溫模塊的溫度為T，并將透明基板放置在LED激發(fā)光源的正上方，將LED激發(fā)光源連接上恒流源，設(shè)置驅(qū)動(dòng)電流為I；

2)移動(dòng)三維控制臺(tái)，調(diào)整透明基板在顯微鏡的正下方，LED激發(fā)光源發(fā)出的光透過透明基板，經(jīng)過顯微鏡進(jìn)入高光譜儀，高光譜儀連計(jì)算機(jī)采集并處理得到相應(yīng)的高光譜數(shù)據(jù)，測(cè)量得到LED激發(fā)光二維光子數(shù)分布B_m×n；

3)將透明基板替換成熒光粉片，設(shè)置與步驟1)相同的電流和溫度條件；

4)移動(dòng)三維控制臺(tái)使得熒光粉片的位置與步驟2)相同，重復(fù)步驟2)的過程，測(cè)量得到LED激發(fā)光二維光子數(shù)分布BB_m×n和熒光粉發(fā)射光光子數(shù)分布Y_m×n；

5)計(jì)算出熒光粉片的二維幾何空間的熒光粉轉(zhuǎn)換效率和熒光粉量子效率分布；

在步驟2)中，通過積分計(jì)算得到每個(gè)像素不同波長(zhǎng)的LED激發(fā)光光子數(shù)總和B，相應(yīng)的二維矩陣記為B_m×n：

步驟4)中，通過積分計(jì)算得到每個(gè)像素不同波長(zhǎng)的LED激發(fā)光光子數(shù)總和BB和熒光粉發(fā)射光光子數(shù)總和Y，對(duì)應(yīng)二維矩陣分別為BB_m×n和Y_m×n：

其中，m,n代表像素的二維空間位置坐標(biāo)；

在步驟5)中，計(jì)算的熒光粉轉(zhuǎn)換效率和熒光粉量子效率定義為：

其中，(λ₁,λ₂)為L(zhǎng)ED激發(fā)光的波段，(λ₃,λ₄)為熒光粉發(fā)射光的波段。