[發明專利]一種使用后向散射截面校正粗糙海面亮溫的方法有效
| 申請號: | 201910975300.4 | 申請日: | 2019-10-14 |
| 公開(公告)號: | CN110793649B | 公開(公告)日: | 2020-10-23 |
| 發明(設計)人: | 馬文韜;于暘;劉桂紅;楊曉峰;杜延磊;李紫薇 | 申請(專利權)人: | 三亞中科遙感研究所;中國科學院遙感與數字地球研究所 |
| 主分類號: | G01J5/60 | 分類號: | G01J5/60;G01J5/00 |
| 代理公司: | 北京永創新實專利事務所 11121 | 代理人: | 冀學軍 |
| 地址: | 572029 *** | 國省代碼: | 海南;46 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 使用 散射 截面 校正 粗糙 海面 方法 | ||
1.一種使用后向散射截面校正粗糙海面亮溫的方法,其特征在于包括有下列步驟:
步驟一:散射計數據讀取和預處理;
從Aquarius衛星L2級數據中提取散射計水平發射水平接收后向散射截面數據記為scat_HH_toa;然后,對所述scat_HH_toa采用對數還原模型進行還原,得到還原后的水平發射水平接收后向散射截面數據Rσ_HH;
從Aquarius衛星L2級數據中提取散射計垂直發射垂直接收后向散射截面數據記為scat_VV_toa;然后,對所述scat_VV_toa采用對數還原模型進行還原,得到還原后的垂直發射垂直接收后向散射截面數據的Rσ_VV;
步驟二:風向數據獲取及風向角度調整;
從Aquarius衛星L2級數據中提取出海面風向數據記為anc_wind_dir;
從Aquarius衛星L2級數據中提取出儀器方位角記為celphi;
然后利用風向校正模型計算得到相對衛星觀測的風向角度
若小于0°,則通過加上360°,使調整到0°~360°范圍內;
若大于360°,則通過減去360°,使調整到0°~360°范圍內;
步驟三:利用散射發射率模型計算海表發射率增量;
利用散射發射率模型計算海表發射率增量為:
ewNRCS表示發射率增量;
beam表示入射角;
p表示輻射計的極化方式;
Rσ表示還原后的后向散射截面數據;
表示相對衛星觀測的風向角度;
An(beam,p,Rσ)表示余弦系數函數,下角標n表示系數標識號,且n的取值為0,1,2,4;其中,A0(beam,p,Rσ)表示0階的余弦系數函數;A1(beam,p,Rσ)表示一階的余弦系數函數;A2(beam,p,Rσ)表示二階的余弦系數函數;A4(beam,p,Rσ)表示四階的余弦系數函數;
所述An(beam,p,Rσ)的計算為:
an,i表示余弦發射率模型系數,下角標n表示系數標識號,下角標i表示階數標識號;
步驟四:海表面溫度數據獲取;
從Aquarius衛星L2級數據中提取出海表面溫度記為anc_surface_temp;
步驟五:進行海表面亮溫校正;
去除粗糙海面影響的水平極化海表面亮溫為:
TBflat,H=rad_TbH-ewNRCS×anc_surface_temp
TBflat,H為計算得到的水平極化平靜海面亮溫;
rad_TbH為水平極化海表面亮溫數據;
去除粗糙海面影響的垂直極化海表面亮溫為:
TBflat,V=rad_TbV-ewNRCS×anc_surface_temp
TBflat,V為計算得到的垂直極化平靜海面亮溫;
rad_TbV為垂直極化海表面亮溫數據。
2.根據權利要求1所述的使用后向散射截面校正粗糙海面亮溫的方法,其特征在于:對數還原模型為:
Rσ表示還原后的后向散射截面數據;σ表示后向散射截面數據;“∧”表示冪的符號。
3.根據權利要求1所述的一種使用后向散射截面校正粗糙海面亮溫的方法,其特征在于:使用后向散射截面直接校正粗糙海面亮溫,不用首先反演風速。
4.根據權利要求1所述的一種使用后向散射截面校正粗糙海面亮溫的方法,其特征在于:散射計和輻射計使用同一入射角同一方位角對海面進行觀測。
5.根據權利要求1所述的一種使用后向散射截面校正粗糙海面亮溫的方法,其特征在于:輻射計型號是Aquarius衛星L波段微波輻射計,散射計型號是Aquarius衛星L波段微波散射計。
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