[發(fā)明專利]基于弱色差信息的高精度RGB-D點(diǎn)云拼接方法和系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910973184.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110992258B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉希龍;陳夢(mèng)娟;顧慶毅;馬學(xué)健 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化研究所;中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化研究所南京人工智能芯片創(chuàng)新研究院 |
| 主分類號(hào): | G06T3/40 | 分類號(hào): | G06T3/40;G06T5/00;G06T7/80 |
| 代理公司: | 南京泰普專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32360 | 代理人: | 竇賢宇 |
| 地址: | 100190 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 色差 信息 高精度 rgb 拼接 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于弱色差信息的高精度RGB?D點(diǎn)云拼接方法和系統(tǒng),所述方法包括:采用粗匹配方法計(jì)算兩個(gè)待拼接點(diǎn)云的位姿關(guān)系矩陣;基于弱色差信息進(jìn)行點(diǎn)云匹配,計(jì)算點(diǎn)云的新的位姿關(guān)系矩陣;基于所述新的位姿關(guān)系矩陣進(jìn)行點(diǎn)云拼接。該方法可以實(shí)現(xiàn)在粗配準(zhǔn)誤差小于5度的情況下的點(diǎn)云精配準(zhǔn),具有匹配精度高,速度快,方法簡(jiǎn)單易實(shí)施等優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于計(jì)算機(jī)視覺(jué)與圖像處理領(lǐng)域,尤其是三維點(diǎn)云拼接技術(shù)。
背景技術(shù)
隨著三維掃描設(shè)備的廣泛應(yīng)用,點(diǎn)云數(shù)據(jù)受到越來(lái)越多的重視,它可以廣泛地應(yīng)用在工業(yè)的自動(dòng)檢測(cè)、零件的加工監(jiān)控、生物復(fù)制、3D電影動(dòng)畫(huà)、文物保護(hù)等眾多領(lǐng)域。點(diǎn)云應(yīng)用過(guò)程中,點(diǎn)云拼接技術(shù)是其重要環(huán)節(jié),也是難點(diǎn)之一。點(diǎn)云拼接就是將不同角度不同時(shí)間點(diǎn)采集到的數(shù)據(jù)統(tǒng)一到同一個(gè)世界坐標(biāo)系下的過(guò)程,而點(diǎn)云拼接的好壞,直接影響了后續(xù)的數(shù)據(jù)分析。
目前市面上常用的點(diǎn)云拼接的方法是將粗配準(zhǔn)和精配準(zhǔn)結(jié)合起來(lái),利用粗配準(zhǔn)將不同的坐標(biāo)系下的點(diǎn)云數(shù)據(jù)統(tǒng)一到同一坐標(biāo)系下,使其圖形大致重合,為精確拼接提供良好初值,而精配準(zhǔn)進(jìn)一步消除粗拼接中的偏差,形成一副完整的三維模型。精配準(zhǔn)技術(shù)應(yīng)用的最為廣泛的是最近點(diǎn)迭代算法(ICP),但這種方法對(duì)點(diǎn)云拼接的初始拼接位置有較高要求,容易造成局部最優(yōu)的情況。
針對(duì)上述情況,技術(shù)人員進(jìn)行了多方的探索,提出了多種方案,但是在自動(dòng)化程度、穩(wěn)定性和拼接精度等方面還存在一些問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的:為了解決現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問(wèn)題,提供一種基于弱色差信息的高精度RGB-D點(diǎn)云拼接方法。
技術(shù)方案:
基于弱色差信息的高精度RGB-D點(diǎn)云拼接方法,包括如下步驟:
步驟1、采用粗匹配方法計(jì)算兩個(gè)待拼接點(diǎn)云的位姿關(guān)系矩陣;
步驟2、基于弱色差信息進(jìn)行點(diǎn)云匹配,計(jì)算點(diǎn)云的新的位姿關(guān)系矩陣;
步驟3、基于所述新的位姿關(guān)系矩陣進(jìn)行點(diǎn)云拼接。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中,所述步驟2進(jìn)一步為:
步驟21、基于步驟1的位姿關(guān)系矩陣,將一個(gè)待拼接點(diǎn)云變換到另一待拼接點(diǎn)云坐標(biāo)系;
步驟22、用同樣的相機(jī)內(nèi)參數(shù)矩陣將兩個(gè)待拼接點(diǎn)云分別投射為2D的RGB圖像;
步驟23、計(jì)算一個(gè)待拼接點(diǎn)云中各像素點(diǎn)的2D RGB圖像各通道的縱橫梯度,獲得像素點(diǎn)的2D描述子a,并比較各2D描述子與梯度閾值向量b的關(guān)系,若(a-b)i>0,i=1,2,...6,則該點(diǎn)為有效點(diǎn);
步驟24、依次將一個(gè)待拼接點(diǎn)云中的所述有效點(diǎn)與另一待拼接點(diǎn)云的2D RGB圖像中對(duì)應(yīng)點(diǎn)進(jìn)行像素值最優(yōu)匹配,建立多對(duì)一的弱色差匹配點(diǎn)集;
步驟25、基于上述弱色差匹配點(diǎn)集,根據(jù)各匹配點(diǎn)的三維坐標(biāo),計(jì)算點(diǎn)云的新的位姿關(guān)系。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中,所述步驟24進(jìn)一步為:記待拼接點(diǎn)云為C1和C2,其投射的2DRGB圖像分別為Img1和Img2,記Img1中的有效點(diǎn)坐標(biāo)為I1(u,v),在Img2中的(u,v)處取c×c的鄰域記作ζ,計(jì)算ζ中的像素RGB值與I1(u,v)的RGB值差,差值最小的點(diǎn)即為(u,v)的匹配點(diǎn),記作I2(u’,v’),由此建立多對(duì)一的弱色差匹配點(diǎn)集。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中,還包括步驟26:
重復(fù)步驟21到步驟25,每重復(fù)一次步驟六中的鄰域減小兩個(gè)像素,直到誤差滿足條件,或者鄰域小于3×3。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化研究所;中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化研究所南京人工智能芯片創(chuàng)新研究院,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化研究所;中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化研究所南京人工智能芯片創(chuàng)新研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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