[發明專利]一種比色檢測硫離子及濃度的方法及其檢測試紙的制備

在審

• 申請號: 201910972044.3
• 申請日: 2019-10-14
• 公開（公告）號: CN110687086A
• 公開（公告）日: 2020-01-14
• 發明（設計）人: 汪晶;許萌;胡軍;蔣晨星
• 申請（專利權）人: 浙江工業大學上虞研究院有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N1/28
• 代理公司: 33332 杭州創造力專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 陳沖

1.一種比色檢測硫離子及濃度的方法，其特征在于：將CdTe量子點分散在超純水中，所述CdTe量子點表面修飾的配體為巰基乙酸、巰基丙酸、N-乙酰-L-半胱氨酸中的一種；所述CdTe量子點的發射波長在515nm至540nm之間；所述CdTe量子點的濃度為1×10^-8至5×10^-4M；然后向CdTe量子點溶液中加入不同終濃度的硫離子溶液，測試各體系在365-380nm激發波長下的熒光強度；以硫離子濃度為橫坐標，加入硫離子前后體系熒光強度峰值為縱坐標構建線性曲線，進而測得待測液中硫離子的濃度。

2.根據權利要求1中所述的一種比色檢測硫離子及濃度的方法，其特征在于：所述CdTe量子點的發射波長在520nm至540nm之間。

3.根據權利要求1中所述的一種比色檢測硫離子及濃度的方法，其特征在于：所述CdTe量子點的濃度為1×10^-8至5×10^-6 M。

4.一種比色檢測硫離子檢測試紙的制備，其特征在于：將玻璃纖維試紙浸泡在CdTe量子點與明膠的混合溶液中，所述CdTe量子點表面修飾的配體為巰基乙酸、巰基丙酸、N-乙酰-L-半胱氨酸中的一種；所述CdTe量子點的發射波長在515nm至540nm之間；所述CdTe量子點的濃度為1×10^-8至5×10^-4M；所述CdTe量子點濃度為5×10^-6至5×10^-4M，明膠濃度為5g/L至50g/L，CdTe量子點與明膠溶液的體積比為0.5~2；隨后取出浸有量子點的試紙，進行凍干，即得到硫離子檢測試紙。

5.根據權利要求4中所述的一種比色檢測硫離子檢測試紙的制備，其特征在于：所述量子點與明膠溶液的體積比為1~2。

6.根據權利要求4中所述的一種比色檢測硫離子檢測試紙的制備，其特征在于：所述CdTe量子點的發射波長在520nm至540nm之間。

7.根據權利要求4中所述的一種比色檢測硫離子檢測試紙的制備，其特征在于：所述CdTe量子點的濃度為1×10^-8至5×10^-6 M。