[發明專利]一種芯片驗證輔助環境以及芯片驗證系統

有效

• 申請號: 201910971380.6
• 申請日: 2019-10-14
• 公開（公告）號: CN110781637B
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 洪灝;劉浩;張靜;鄭思;唐振中
• 申請（專利權）人: 珠海泰芯半導體有限公司
• 主分類號: G06F30/367
• 分類號: G06F30/367
• 代理公司: 廣東朗乾律師事務所 44291
• 代理人: 閆有幸

本發明公開一種芯片驗證輔助環境以及芯片驗證系統；所述芯片驗證輔助環境包括應用場景數據庫，用于記錄芯片的所有應用場景；驗證場景生成以及轉換單元，根據各應用場景自動生成各種待驗證的驗證場景，并且將各驗證場景的所有配置的格式轉換為驗證環境能夠識別的語言；數據采集以及分析處理單元用于生成隨機種子以及采集所述驗證環境中的驗證場景的驗證結果；場景配置單元根據所述隨機種子選出一種驗證場景，將該驗證場景的各項配置發送給所述驗證環境進行該驗證場景的驗證；本發明的輔助環境，能夠根據設置，自動生成所有的驗證場景并轉換為驗證環境能夠識別的語言；大大提高了驗證環境設置的準確度以及芯片驗證的速度，加快了芯片開發的進度。

技術領域

本發明涉及芯片驗證領域，特別是涉及一種芯片驗證輔助環境以及芯片驗證系統。

背景技術

芯片的驗證是指在芯片流片之前對其硬件和軟件進行充分的驗證，可以及時發現芯片設計過程中很難發現的一些缺陷，及時調整和迭代，以保證流片順利進行，在當代復雜芯片的設計中，50％～80％的工作都是在驗證，因此驗證在芯片設計中決定了整個設計流程的效率。

隨著芯片的集成規模和復雜度越來越高，芯片驗證變得越來越重要。在驗證過程中經常會同時面臨不同項目的數以千計、規模各異的驗證任務，如何快速、有效的進行芯片驗證成為了一大挑戰。

現有技術中，芯片驗證一般是只注重應用場景的單項配置是否有所覆蓋到，對于配置與配置之間的組合應用場景一般有所忽略，全憑環境的配置隨機化，這樣就導致需要隨機次數非常多，并且不是所有的場景能夠全部驗證到。

現有技術中，也有驗證配置與配置之間的組合場景的，其也是采用隨機的方式去驗證，同樣對于一些組合場景可能無法得到驗證；比如某一芯片的驗證包括4項配置A/B/C/D的驗證，在現有的驗證環境里，上述四項配置A/B/C/D組合的應用場景有100多個甚至更多，可能需要隨機500次或者更多才能夠將全部的組合都驗證到，并且是由于都是隨機組合，也有可能一部分配置組合的應用場景沒有得到驗證，從而導致驗證的不完全；并且現有技術中沒有有專用的環境來統計是否所有的應用場景都能夠覆蓋到。

另外，現有技術中如果要統計所有的驗證場景(包括各種組合應用場景)，還需要人為進行統計，工作量大，時間長，并且容易出錯，從而使傳統的芯片仿真驗證方式，具有時間長、自動化程度低、耗時費力、并且人員驗證容易出錯等劣勢，這就導致整個芯片的開發周期變長。

發明內容

本發明的第一目的旨在提供一種芯片驗證輔助環境，該輔助環境與芯片的驗證環境相配合，能夠實現芯片驗證的自動化，有效地提高芯片驗證的效率。本發明的第一目的通過以下技術方案實現：

一種芯片驗證輔助環境，用于與芯片的驗證環境配合使用來進行芯片的自動化驗證；其特征在于，所述芯片驗證輔助環境包括應用場景數據庫、驗證場景生成以及轉換單元、場景配置單元、數據采集以及分析處理單元；

所述應用場景數據庫，用于記錄芯片的所有應用場景；

所述驗證場景生成以及轉換單元與所述應用場景數據庫以及所述場景配置單元連接，根據所述應用場景數據庫的各應用場景自動生成各種待驗證的驗證場景，并且將各驗證場景的所有配置進行格式轉換，格式轉換后的數據存儲在所述場景配置單元中；

所述數據采集以及分析處理單元與所述場景配置單元以及所述驗證環境連接；所述數據采集以及分析處理單元用于生成隨機種子，并將所述隨機種子發送給所述場景配置單元；所述數據采集以及分析處理單元還用于采集所述驗證環境中的驗證場景的驗證結果，當某一驗證場景驗證完成，所述數據采集以及分析處理單元生成另外一個隨機種子；

所述場景配置單元與所述驗證環境連接，根據所述隨機種子選出一種驗證場景，將該驗證場景的各項配置發送給所述驗證環境進行該驗證場景的驗證。