[發(fā)明專(zhuān)利]面內(nèi)不對(duì)稱(chēng)的磁存儲(chǔ)單元和制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910971140.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111370568B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王開(kāi)友;曹易 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L43/02 | 分類(lèi)號(hào): | H01L43/02;H01L43/08;H01L43/12 |
| 代理公司: | 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 100083 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 不對(duì)稱(chēng) 存儲(chǔ) 單元 制備 方法 | ||
1.一種面內(nèi)不對(duì)稱(chēng)的磁存儲(chǔ)單元,其特征在于,包括:
襯底;
垂直磁化層,位于所述襯底之上;
其中,所述垂直磁化層包括遮擋區(qū)域和加熱區(qū)域,所述加熱區(qū)域形成于所述垂直磁化層上去除光刻膠的位置,所述遮擋區(qū)域形成于所述垂直磁化層上保留光刻膠的位置;
其中,通過(guò)光照或電子束照射或離子束照射對(duì)所述垂直磁化層的所述加熱區(qū)域進(jìn)行局域加熱退火使所述垂直磁化層內(nèi)產(chǎn)生膜面方向的不對(duì)稱(chēng)性,未采用重金屬層或其它強(qiáng)自旋軌道耦合層,由此在沒(méi)有重金屬層或其它強(qiáng)自旋軌道耦合層與垂直磁化層接觸的多層膜堆疊中,實(shí)現(xiàn)面內(nèi)電流對(duì)垂直磁化層的SOT式定向磁化翻轉(zhuǎn)操作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面內(nèi)不對(duì)稱(chēng)的磁存儲(chǔ)單元,其特征在于,還包括:導(dǎo)電保護(hù)層,位于所述垂直磁化層之上,用于保護(hù)所述垂直磁化層。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的面內(nèi)不對(duì)稱(chēng)的磁存儲(chǔ)單元,其包括磁隧穿結(jié)結(jié)構(gòu),其特征在于,在所述垂直磁化層和導(dǎo)電保護(hù)層之間還包括:
中間非磁性層,位于所述垂直磁化層之上;
磁性釘扎層,位于所述中間非磁性層之上;
反鐵磁層,位于所述磁性釘扎層之上;以及
導(dǎo)電保護(hù)層,位于反鐵磁層之上,在所述導(dǎo)電保護(hù)層上引出有作為輸出端的電極。
4.一種面內(nèi)不對(duì)稱(chēng)的磁存儲(chǔ)單元的制備方法,其特征在于,包括:
提供襯底;
在所述襯底上形成垂直磁化層;
在所述垂直磁化層上涂覆光刻膠;其中,所述垂直磁化層包括遮擋區(qū)域和加熱區(qū)域,所述加熱區(qū)域形成于所述垂直磁化層上去除光刻膠的位置,所述遮擋區(qū)域形成于所述垂直磁化層上保留光刻膠的位置;
通過(guò)光照或電子束照射或離子束照射對(duì)所述垂直磁化層的所述加熱區(qū)域進(jìn)行局域加熱退火使所述垂直磁化層內(nèi)產(chǎn)生膜面方向的不對(duì)稱(chēng)性,未采用重金屬層或其它強(qiáng)自旋軌道耦合層,由此在沒(méi)有重金屬層或其它強(qiáng)自旋軌道耦合層與垂直磁化層接觸的多層膜堆疊中,實(shí)現(xiàn)面內(nèi)電流對(duì)垂直磁化層的SOT式定向磁化翻轉(zhuǎn)操作。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的面內(nèi)不對(duì)稱(chēng)的磁存儲(chǔ)單元的制備方法,其特征在于,在所述襯底上形成垂直磁化層之后,還包括:通過(guò)光刻工藝中的甩膠、曝光、顯影去除所述垂直磁化層上的部分光刻膠,由此在所述垂直磁化層上形成加熱區(qū)域和遮擋區(qū)域;其中,所述光刻工藝選自浸入式光刻工藝和極紫外光刻工藝。
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